[實(shí)用新型]用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820207917.2
• 申請(qǐng)日: 2018-02-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN208390470U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 連程杰;朱干軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 義烏臻格科技有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/342
• 分類號(hào): B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 杭州豐禾專利事務(wù)所有限公司 33214
• 代理人: 陳迪

1.一種用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：它包括機(jī)架（1），其上固定有水平設(shè)置的X向軌道（2），X向軌道（2）上滑動(dòng)配合有與其垂直設(shè)置的Y向軌道（3），Y向軌道（3）上滑動(dòng)配合有用于搭載LED支架的載臺(tái)（4），且載臺(tái)（4）上的LED支架的正反面為外露設(shè)置，機(jī)架（1）上且位于載臺(tái)（4）的可移動(dòng)區(qū)域內(nèi)固定有鏡頭朝下的第一拍攝裝置（51）和鏡頭朝上的第二拍攝裝置（52），第一拍攝裝置（51）和第二拍攝裝置（52）為同軸線設(shè)置，所述載臺(tái)（4）的高度為介于第一拍攝裝置（51）和第二拍攝裝置（52）之間，機(jī)架（1）上且位于載臺(tái)（4）的可移動(dòng)區(qū)域內(nèi)還設(shè)有豎直設(shè)置且可上下運(yùn)動(dòng)的頂出桿（6），頂出桿（6）為高于載臺(tái)（4）所在高度，所述的機(jī)架（1）上還設(shè)有輔助照明裝置（7）。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述機(jī)架（1）上且位于載臺(tái)（4）可移動(dòng)區(qū)域的前側(cè)設(shè)有可上下滑動(dòng)的上料盒（8），上料盒（8）內(nèi)可縱向疊放LED支架，機(jī)架（1）上還設(shè)有可將LED支架向后推出上料盒（8）的推桿（9）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的載臺(tái)（4）為上下雙層結(jié)構(gòu)，可由氣缸控制上下開(kāi)合，且載臺(tái)的上下面均設(shè)有拍攝窗口（41）。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的推桿（9）可整體上下運(yùn)動(dòng)，其頭部設(shè)有可與LED支架鉤合的鉤子（91）。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的機(jī)架（1）上且位于X向軌道（2）的下側(cè)設(shè)有工作臺(tái)（13），工作臺(tái)（13）的上表面為光潔的水平面，工作臺(tái)（13）上且位于頂出桿（6）的正下方開(kāi)設(shè)有上下貫通的排料口（15）。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述工作臺(tái)（13）與機(jī)架（1）之間墊有隔震塊（14）。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的頂出桿（6）和推桿（9）均由氣缸驅(qū)動(dòng)。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的上料盒（8）由電機(jī)驅(qū)動(dòng)。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于檢測(cè)LED封裝缺陷的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述的機(jī)架（1）上設(shè)有集成支架（10），第一拍攝裝置（51）、頂出桿（6）和輔助照明裝置（7）均裝配在集成支架（10）上。