[實(shí)用新型]光學(xué)檢查系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820182786.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208091947U | 公開(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 喬軼;徐明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘋果公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/956 | 分類號(hào): | G01N21/956 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 李玲 |
| 地址: | 美國加*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光路 透鏡 光學(xué)檢查系統(tǒng) 數(shù)字圖像傳感器 相機(jī)透鏡 捕獲圖像 光發(fā)射 反射 光源 顯示器 穿過 配置 申請(qǐng) | ||
本申請(qǐng)涉及光學(xué)檢查系統(tǒng)。所述光學(xué)檢查系統(tǒng)包括:光源,被配置為將光發(fā)射到光路中;在光通過的光路中的第一透鏡;在光通過第一透鏡并從顯示器層反射之后光通過的光路中的第二透鏡;光通過的光路中的相機(jī)透鏡;以及數(shù)字圖像傳感器,所述數(shù)字圖像傳感器使用已經(jīng)穿過相機(jī)透鏡的光來捕獲圖像。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型一般而言涉及檢查系統(tǒng),并且更具體地涉及光學(xué)檢查 系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在電子設(shè)備制造過程中通常期望測試部件。如果部件包含故障, 那么部件可能被修理或更換。這可以有助于提高制造良率和設(shè)備可靠 性。
如果沒有注意,那么可能沒有檢測到故障。因此,部件組裝操作 可能不可靠、可能需要復(fù)雜且昂貴的裝備、或者可能需要花費(fèi)太多的 時(shí)間來令人滿意地完成。
實(shí)用新型內(nèi)容
可以使用光學(xué)檢查系統(tǒng)來生成電子設(shè)備中的顯示器或其它部件的 陰影圖(shadowgraph)。圖像處理操作可以用于分析陰影圖以識(shí)別指 示故障的黑暗區(qū)域。
該系統(tǒng)包括諸如點(diǎn)光源的光源,其沿著光路發(fā)射光。第一透鏡準(zhǔn) 直來自光源的光。被測試設(shè)備(諸如具有顯示器或其它光學(xué)部件的電 子設(shè)備)被插入在光路中并且反射已經(jīng)穿過第一透鏡的光。第二透鏡 幫助將光聚集到相機(jī)上。第二透鏡可以被插入在第一透鏡與電子設(shè)備 之間或者電子設(shè)備與相機(jī)之間。
相機(jī)具有相機(jī)透鏡,相機(jī)透鏡具有帶開口的光圈結(jié)構(gòu)。光穿過開 口到相機(jī)中的圖像傳感器。控制電路系統(tǒng)處理用相機(jī)捕獲的圖像以檢 測暗點(diǎn)。當(dāng)檢測到暗點(diǎn)時(shí),可以發(fā)出警報(bào)或者可以采取其它合適的動(dòng) 作。
根據(jù)本申請(qǐng)的一個(gè)方面,提供了一種可操作以檢查被測試電子設(shè) 備的光學(xué)檢查系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)包括:光源,所 述光源被配置為發(fā)光;第一透鏡,所述第一透鏡被配置為準(zhǔn)直光并使 準(zhǔn)直的光從電子設(shè)備反射;相機(jī),所述相機(jī)具有相機(jī)透鏡和圖像傳感 器,其中所述相機(jī)透鏡具有帶開口的光圈結(jié)構(gòu);以及第二透鏡,所述 第二透鏡將由圖像傳感器捕獲的通過所述開口之后的反射的準(zhǔn)直的光 聚集在相機(jī)透鏡中。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)還包括控制電路系統(tǒng),所 述控制電路系統(tǒng)被配置為檢測來自圖像傳感器的圖像中的暗點(diǎn)。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述控制電路系統(tǒng)還被配置為響應(yīng)于確定圖 像包含多于預(yù)定閾值量的暗點(diǎn)而發(fā)出警報(bào)。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述第一透鏡和所述第二透鏡包括相應(yīng)的第 一平凸透鏡和第二平凸透鏡。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光源包括點(diǎn)光源。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)還包括至少一個(gè)使光偏振 的偏振器。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)還包括:插入在所述光源 和所述第一透鏡之間的第一偏振器;以及插入在所述第二透鏡和所述 相機(jī)之間的第二偏振器。
根據(jù)本公開的另一個(gè)方面,提供了一種可操作以光學(xué)檢查電子設(shè) 備中的顯示器層的光學(xué)檢查系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)包 括:光源,所述光源被配置為發(fā)射從顯示器層反射的光;相機(jī),所述 相機(jī)具有帶光圈結(jié)構(gòu)的相機(jī)透鏡,所述光圈結(jié)構(gòu)具有光通過的開口; 以及控制電路系統(tǒng),所述控制電路系統(tǒng)被配置為檢測來自相機(jī)的圖像 中的暗點(diǎn)來檢測顯示器層中的缺陷。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述控制電路系統(tǒng)還被配置為使用陰影圖技 術(shù)來檢測來自相機(jī)的圖像中的暗點(diǎn)以檢測顯示器層中的缺陷。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)還包括插入在所述光源和 所述電子設(shè)備之間的至少一個(gè)透鏡。
根據(jù)一種實(shí)施方式,所述光學(xué)檢查系統(tǒng)還包括插入在所述光源與 所述透鏡之間的偏振器。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





