[實用新型]光學檢查系統

有效

• 申請號: 201820182786.7
• 申請日: 2018-02-02
• 公開（公告）號: CN208091947U
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發明（設計）人: 喬軼;徐明
• 申請（專利權）人: 蘋果公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 李玲

1.一種可操作以檢查被測試電子設備的光學檢查系統，其特征在于，所述光學檢查系統包括：

光源，所述光源被配置為發光；

第一透鏡，所述第一透鏡被配置為準直光并使準直的光從電子設備反射；

相機，所述相機具有相機透鏡和圖像傳感器，其中所述相機透鏡具有帶開口的光圈結構；以及

第二透鏡，所述第二透鏡將由圖像傳感器捕獲的通過所述開口之后的反射的準直的光聚集在相機透鏡中。

2.如權利要求1所述的光學檢查系統，還包括控制電路系統，所述控制電路系統被配置為檢測來自圖像傳感器的圖像中的暗點。

3.如權利要求2所述的光學檢查系統，其中所述控制電路系統還被配置為響應于確定圖像包含多于預定閾值量的暗點而發出警報。

4.如權利要求1-3中任意一個權利要求所述的光學檢查系統，其中所述第一透鏡和所述第二透鏡包括相應的第一平凸透鏡和第二平凸透鏡。

5.如權利要求1-3中任意一個權利要求所述的光學檢查系統，其中所述光源包括點光源。

6.如權利要求1-3中任意一個權利要求所述的光學檢查系統，還包括：

至少一個使光偏振的偏振器。

7.如權利要求1-3中任意一個權利要求所述的光學檢查系統，還包括：

插入在所述光源和所述第一透鏡之間的第一偏振器；以及

插入在所述第二透鏡和所述相機之間的第二偏振器。

8.一種可操作以光學檢查電子設備中的顯示器層的光學檢查系統，其特征在于，所述光學檢查系統包括：

光源，所述光源被配置為發射從顯示器層反射的光；

相機，所述相機具有帶光圈結構的相機透鏡，所述光圈結構具有光通過的開口；以及

控制電路系統，所述控制電路系統被配置為檢測來自相機的圖像中的暗點來檢測顯示器層中的缺陷。

9.如權利要求8所述的光學檢查系統，其中，所述控制電路系統還被配置為使用陰影圖技術來檢測來自相機的圖像中的暗點以檢測顯示器層中的缺陷。

10.如權利要求8所述的光學檢查系統，還包括插入在所述光源和所述電子設備之間的至少一個透鏡。

11.如權利要求10所述的光學檢查系統，還包括插入在所述光源與所述透鏡之間的偏振器。

12.如權利要求8所述的光學檢查系統，還包括：

第一透鏡；以及

第二透鏡，其中所述控制電路系統被配置為當光沿著光路穿過所述第一透鏡和所述第二透鏡時從相機收集圖像。

13.如權利要求12所述的光學檢查系統，其中所述電子設備位于所述第一透鏡和所述第二透鏡之間的光路中。

14.如權利要求12所述的光學檢查系統，其中所述第一透鏡和所述第二透鏡位于所述光源和所述電子設備之間的光路中。

15.如權利要求12所述的光學檢查系統，還包括：

在所述光源和所述第一透鏡之間的第一偏振器；以及

在所述第二透鏡和所述相機之間的第二偏振器。

16.如權利要求12所述的光學檢查系統，其中所述第一透鏡和所述第二透鏡分別包括第一平凸透鏡和第二平凸透鏡。