[實用新型]一種數字鎖相環測試適配器有效
| 申請號： | 201820142442.3 | 申請日： | 2018-01-26 |
| 公開（公告）號： | CN207798883U | 公開（公告）日： | 2018-08-31 |
| 發明（設計）人： | 石雪梅;李盛杰;劉敦偉;羅晶;顧穎 | 申請（專利權）人： | 航天科工防御技術研究試驗中心 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京風雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王剛 |
| 地址： | 100085*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 數字鎖相環 電容電阻 繼電控制器 連接器 測試適配器 被測器件 輸出時鐘信號 本實用新型 測試系統 測試要求 頻率測試 陣列選擇 電容 電阻 母版 適配 生產成本 節約 | ||
本實用新型公開了一種數字鎖相環測試適配器，基于ATE測試系統V93000，用于適配數字鎖相環MC74HC4046，包括：連接器、繼電控制器以及電容電阻陣列；所述連接器與測試系統母版相連；所述電容電阻陣列與被測器件相連；所述繼電控制器控制所述電容電阻陣列選擇不同的電阻和電容，與所述被測器件相連。通過繼電控制器控制選擇不同的電容電阻組合，適用于數字鎖相環不同頻率測試，通用性好，能夠滿足數字PLL器件MC74HC4046的所有輸出時鐘信號測試要求，進而節約了生產成本。
技術領域
本實用新型涉及適配器技術領域，特別是指一種數字鎖相環測試適配器。
背景技術
由于集成電路自動測試系統及測試適配器技術的限制，數字鎖相環PLL(PhaseLocked Loop)器件MC74HC4046的測試適配器，只能測試固定一個頻率值，不能完全反映被測器件的真實情況。當需要測試不同頻率時，需要再進行相應的適配器設計，開發成本高，周期長。
實用新型內容
有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種通用性好的數字鎖相環測試適配器。
基于上述目的本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，基于ATE測試系統V93000，用于適配數字鎖相環MC74HC4046，包括：連接器、繼電控制器以及電容電阻陣列；
所述連接器與測試系統母版相連；
所述電容電阻陣列與被測器件相連；
所述繼電控制器控制所述電容電阻陣列選擇不同的電阻和電容，與所述被測器件相連。
數字鎖相環測試適配器，所述電容電阻陣列包括電阻陣列和電容陣列；
所述電阻陣列包括多個電阻并聯，多個電阻并聯后一端接地，一端與被測器件相連；
所述電容陣列包括多個電容并聯，多個電容并聯后兩端分別與被測器件的兩個對應的管腳相連。
優選的，本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，每個電阻的阻值不相同；每個電容的容值不相同。
優選的，本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，所述電阻陣列包括八個電阻并聯，所述電容陣列包括三個電容并聯。
優選的，本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，多個電容并聯后，一端與被測器件的C1A管腳相連，另一端與被測器件的C1B管腳相連。
優選的，本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，所述電八個電阻的阻值分別為：3KΩ、10KΩ、20KΩ、30KΩ、40KΩ、50KΩ、100KΩ和300KΩ。
所述三個電容的容值分別為：0.1uF、39pF和100pF。
從上面所述可以看出，本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器，基于ATE測試系統V93000，設置電容電阻陣列，通過繼電控制器控制選擇不同的電容電阻組合，適用于數字鎖相環不同頻率測試，通用性好，能夠滿足數字PLL器件MC74HC4046的所有輸出時鐘信號測試要求，進而節約了生產成本。
附圖說明
圖1為本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器實施例示意圖；
圖2為本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器的電阻陣列實施例示意圖；
圖3為本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器的電容陣列實施例示意圖；
圖4為本實用新型提供的數字鎖相環測試適配器的繼電控制器輸出信號實施例示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。
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