[實用新型]一種數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820142442.3
• 申請日: 2018-01-26
• 公開（公告）號: CN207798883U
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 石雪梅;李盛杰;劉敦偉;羅晶;顧穎
• 申請（專利權(quán)）人: 航天科工防御技術(shù)研究試驗中心
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 王剛

1.一種數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，基于ATE測試系統(tǒng)V93000，其特征在于，用于適配數(shù)字鎖相環(huán)MC74HC4046，包括：連接器、繼電控制器以及電容電阻陣列；

所述連接器與測試系統(tǒng)母版相連；

所述電容電阻陣列與被測器件相連；

所述繼電控制器控制所述電容電阻陣列選擇不同的電阻和電容，與所述被測器件相連。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，其特征在于，所述電容電阻陣列包括電阻陣列和電容陣列；

所述電阻陣列包括多個電阻并聯(lián)，多個電阻并聯(lián)后一端接地，一端與被測器件相連；

所述電容陣列包括多個電容并聯(lián)，多個電容并聯(lián)后兩端分別與被測器件的兩個對應(yīng)的管腳相連。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，其特征在于，每個電阻的阻值不相同；每個電容的容值不相同。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，其特征在于，所述電阻陣列包括八個電阻并聯(lián)，所述電容陣列包括三個電容并聯(lián)。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，其特征在于，多個電容并聯(lián)后，一端與被測器件的C1A管腳相連，另一端與被測器件的C1B管腳相連。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)字鎖相環(huán)測試適配器，其特征在于，所述電八個電阻阻值分別為：3KΩ、10KΩ、20KΩ、30KΩ、40KΩ、50KΩ、100KΩ和300KΩ；

所述三個電容的容值分別為：0.1uF、39pF和100pF。