[實用新型]一種電子元器件測試夾具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820126347.4 | 申請日： | 2018-01-25 |
| 公開（公告）號： | CN207964886U | 公開（公告）日： | 2018-10-12 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李冠皇 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京勵芯泰思特測試技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京思格頌知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11635 | 代理人： | 楊超;潘珺 |
| 地址： | 100088 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 接插 電子元器件 測試夾具 測試插座 模塊底板 承載件 探針 測試設備 電聯(lián)接 測試 測試電子元器件 本實用新型 安裝測試 測試臺面 測試效率 單個器件 低溫環(huán)境 高低溫箱 外部接觸 溫度測試 地連接 可拆卸 結(jié)霜 排布 溫箱 全程 保證 | ||
1.一種電子元器件測試夾具，其特征在于，包括：承載件和多個接插模塊；
所述多個接插模塊排布在所述承載件上，所述接插模塊包括：接插模塊底板、探針和測試插座；
所述接插模塊底板與所述承載件連接；
所述探針與所述測試插座分別安裝在所述接插模塊底板上，且所述探針與所述測試插座電聯(lián)接。
2.如權(quán)利要求1所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述承載件包括：上下至少兩個承載部件，所述承載部件為盤狀或環(huán)狀；所述多個接插模塊并列排布于相鄰的兩個承載部件之間，且在垂直方向上分別與所述相鄰的兩個承載部件連接。
3.如權(quán)利要求1所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述承載件為單個承載部件，所述承載部件為盤狀或環(huán)狀；所述多個接插模塊并列排布于所述承載部件上且在垂直方向與所述單個承載部件連接。
4.如權(quán)利要求1所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述承載件為單個筒狀部件，在筒側(cè)壁沿垂直方向開有多個孔和/或槽；所述多個接插模塊位于所述孔和/或槽中，與所述筒側(cè)壁連接。
5.如權(quán)利要求2-4任一項所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述接插模塊底板與所述承載件的連接方式包括下列方式一種或多種的組合：螺紋連接、卡扣連接、粘接連接、鎖扣連接和焊接。
6.如權(quán)利要求5所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，盤狀或環(huán)狀承載部件的邊緣具有翻邊，在所述翻邊上分布有螺紋孔，所述接插模塊底板的至少一端抵靠于所述翻邊上且與所述翻邊通過所述螺紋孔螺紋連接。
7.如權(quán)利要求2或3所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述承載部件的底部在垂直方向上分布有多個定位安裝孔。
8.如權(quán)利要求2-4任一項所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述探針安裝在所述接插模塊底板遠離所述承載件中心軸的一側(cè)，測試插座安裝在接插模塊底板靠近所述承載件中心軸的一側(cè)。
9.如權(quán)利要求1所述的電子元器件測試夾具，其特征在于，所述接插模塊還包括：測試插座墊板，所述測試插座墊板位于所述接插模塊底板和測試插座之間。
10.一種電子元器件測試系統(tǒng)，包括：如權(quán)利要求1-9任一項所述的電子元器件測試夾具和測試設備；
所述電子元器件測試夾具可拆卸地連接于所述測試設備的測試臺面；
所述測試設備與電子元器件測試夾具上的各接插模塊電聯(lián)接，對所述接插模塊上接插的被測試電子元器件進行測試。
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