[實(shí)用新型]用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820097487.3 | 申請日： | 2018-01-19 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN207894592U | 公開（公告）日： | 2018-09-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 齊威;齊月靜;王宇;盧增雄;李兵 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院光電研究院 |
| 主分類號(hào)： | G01M11/04 | 分類號(hào)： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 北京辰權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11619 | 代理人： | 郎志濤 |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 工件臺(tái) 光學(xué)元件性能 試驗(yàn)臺(tái) 支撐板 可移動(dòng)單元 檢測 搬運(yùn) 高度調(diào)節(jié)單元 橫向調(diào)節(jié)單元 縱向調(diào)節(jié)單元 安裝基準(zhǔn)面 本實(shí)用新型 檢測設(shè)備 平移運(yùn)動(dòng) 同時(shí)裝置 外部工具 縱向限位 可調(diào)節(jié) 對(duì)稱 移動(dòng) 試驗(yàn) 支撐 | ||
1.用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，包括基座和工件臺(tái)，所述基座用于支撐所述工件臺(tái)并能夠帶動(dòng)所述工件臺(tái)共同移動(dòng)，所述工件臺(tái)的兩個(gè)相反的側(cè)面上設(shè)有橫向調(diào)節(jié)單元，所述基座包括支撐板，所述支撐板的下方設(shè)有可移動(dòng)單元，所述可移動(dòng)單元和所述支撐板之間設(shè)有高度調(diào)節(jié)單元，所述支撐板的上方設(shè)有縱向調(diào)節(jié)單元，所述試驗(yàn)臺(tái)的左、右兩側(cè)機(jī)架上均設(shè)有縱向限位單元，當(dāng)所述基座和所述工件臺(tái)移動(dòng)到所述試驗(yàn)臺(tái)的左、右兩側(cè)機(jī)架之間時(shí)，所述支撐板能夠與所述縱向限位單元相貼合，通過調(diào)節(jié)所述高度調(diào)節(jié)單元來降低所述支撐板的高度，能夠使所述支撐板貼靠在所述試驗(yàn)臺(tái)的左、右兩側(cè)機(jī)架之間的高度限位單元上，通過調(diào)節(jié)所述縱向調(diào)節(jié)單元能夠調(diào)節(jié)所述工件臺(tái)在水平面內(nèi)的縱向位置，通過調(diào)節(jié)所述橫向調(diào)節(jié)單元能夠調(diào)節(jié)所述工件臺(tái)在水平面內(nèi)的橫向位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述可移動(dòng)單元為滾輪。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述高度調(diào)節(jié)單元包括滾輪支架、高度調(diào)節(jié)螺母和鎖緊螺母，所述滾輪通過所述滾輪支架連接于所述支撐板的下方，所述高度調(diào)節(jié)螺母設(shè)于所述滾輪支架的下方，用于調(diào)節(jié)所述滾輪支架的高度，所述鎖緊螺母設(shè)于所述滾輪支架的上方，用于鎖緊所述滾輪支架并固定所述滾輪支架的高度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述縱向調(diào)節(jié)單元包括縱向固定板和縱向調(diào)節(jié)螺釘，所述縱向固定板為L型固定板，所述縱向固定板的一個(gè)板面垂直于所述支撐板的上表面，所述縱向固定板的另一個(gè)板面與所述支撐板的上表面相貼合并通過螺栓連接固定于所述支撐板的上表面，所述縱向調(diào)節(jié)螺釘設(shè)于所述縱向固定板的所述一個(gè)板面上，通過調(diào)節(jié)所述縱向調(diào)節(jié)螺釘能夠調(diào)節(jié)所述工件臺(tái)在水平面內(nèi)的縱向位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述橫向調(diào)節(jié)單元包括橫向調(diào)節(jié)螺釘和橫向調(diào)節(jié)支架，所述橫向調(diào)節(jié)支架設(shè)于所述工件臺(tái)的兩個(gè)相反的側(cè)面上，所述橫向調(diào)節(jié)支架上設(shè)有橫向調(diào)節(jié)螺釘，所述橫向調(diào)節(jié)螺釘?shù)纳斐龆四軌蚺c所述機(jī)架相貼合，通過調(diào)節(jié)所述橫向調(diào)節(jié)螺釘?shù)纳斐鲩L度來調(diào)整所述工件臺(tái)在水平面內(nèi)的橫向位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述試驗(yàn)臺(tái)的機(jī)架上還設(shè)有鎖緊支架，所述鎖緊支架上設(shè)有鎖緊螺釘，通過旋緊所述鎖緊螺釘能夠?qū)⑺龉ぜ_(tái)在豎直方向內(nèi)的高度進(jìn)行固定。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述機(jī)架的下方設(shè)有用于對(duì)所述機(jī)架進(jìn)行減震的隔振器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述高度限位單元為楔形調(diào)節(jié)塊。
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