[實用新型]垢下金屬表面pH值測量的裝置有效
| 申請號: | 201820033096.5 | 申請日: | 2018-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN207703766U | 公開(公告)日: | 2018-08-07 |
| 發明(設計)人: | 蔣秀;屈定榮;陶彬;劉全楨 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司青島安全工程研究院 |
| 主分類號: | G01N27/00 | 分類號: | G01N27/00 |
| 代理公司: | 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 張惠明 |
| 地址: | 266071 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 中空柱 金屬表面 密封圈 固定器 金屬網 中空 本實用新型 內螺紋口 實驗容器 直接測量 外螺紋 朝上 可用 | ||
1.一種垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于,所述裝置包括平頭pH電極、密封圈、中空柱、金屬網和中空固定器,平頭pH電極上安裝有密封圈A、密封圈B,并固定在中空柱上,平頭pH電極位于中空柱內,平頭朝上,金屬網放置于中空柱上部的臺階上,中空固定器和中空柱上設有密封圈C,金屬網固定在中空固定器和中空柱上;中空柱下部設有外螺紋,與實驗容器下部的內螺紋口相連。
2.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于金屬網的形狀與中空柱匹配。
3.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于中空固定器帶有外螺紋。
4.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于中空固定器是中空結構。
5.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于根據實驗需要在金屬網上添加垢層。
6.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于實驗容器內有實驗溶液。
7.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于金屬網下安裝平頭pH電極。
8.根據權利要求1所述垢下金屬表面pH值測量的裝置,其特征在于中空柱的臺階以上部分帶有內螺紋。
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