[實用新型]電容芯片測試插座有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820004034.1 | 申請日: | 2018-01-02 |
| 公開(公告)號: | CN207923937U | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 甘貞龍;李成君;侯燕兵 | 申請(專利權(quán))人: | 法特迪精密科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 張歡勇 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試座 電容芯片 測試 螺旋頂桿結(jié)構(gòu) 測試插座 卡緊裝置 旋轉(zhuǎn)裝置 測試針 上座體 下座體 本實用新型 可翻轉(zhuǎn)連接 螺栓連接 高頻率 卡接 取出 相抵 貫穿 | ||
本實用新型公開了一種電容芯片測試插座,包括測試蓋和測試座,所述測試蓋設(shè)置在所述測試座的上方,所述測試座與測試蓋可翻轉(zhuǎn)連接,所述測試座與測試蓋之間設(shè)有卡緊裝置和旋轉(zhuǎn)裝置,所述卡緊裝置設(shè)置在旋轉(zhuǎn)裝置相對的一側(cè),所述測試蓋與測試座之間設(shè)置有電容芯片,所述測試座包括上座體和下座體,所述上座體與下座體通過螺栓連接,所述測試座底部設(shè)置有螺旋頂桿結(jié)構(gòu),所述螺旋頂桿結(jié)構(gòu)貫穿所述測試座與所述電容芯片相抵接,所述測試座上設(shè)有若干測試針,所述電容芯片與若干所述測試針卡接,方便取出電容芯片,能夠?qū)崿F(xiàn)電容芯片高頻率測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及半導(dǎo)體集成電路芯片測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電容芯片測試插座。
背景技術(shù)
由于電容芯片信號管腳很長,測試頻率很高,傳統(tǒng)的測試方式一般是直接將電容芯片焊接在PCB板測試,測試完成后芯片很難取出,解焊取下后管腳上會留下焊痕,電容芯片管腳外形尺寸被破壞,電容芯片不能再使用。
實用新型內(nèi)容
為克服上述缺點,本實用新型的目的在于提供一種電容芯片測試插座,方便取出電容芯片,能夠?qū)崿F(xiàn)電容芯片高頻率測試。
為了達(dá)到以上目的,本實用新型采用的技術(shù)方案是:一種電容芯片測試插座,包括測試蓋和測試座,所述測試蓋設(shè)置在所述測試座的上方,所述測試座與測試蓋可翻轉(zhuǎn)連接,所述測試座與測試蓋之間設(shè)有卡緊裝置和旋轉(zhuǎn)裝置,所述卡緊裝置設(shè)置在旋轉(zhuǎn)裝置相對的一側(cè),所述測試蓋與測試座之間設(shè)置有電容芯片,所述測試座包括上座體和下座體,所述上座體與下座體通過螺栓連接,所述測試座底部設(shè)置有螺旋頂桿結(jié)構(gòu),所述螺旋頂桿結(jié)構(gòu)貫穿所述測試座與所述電容芯片相抵接,所述測試座上設(shè)有若干測試針,所述電容芯片與若干所述測試針卡接。
進(jìn)一步地,所述螺旋頂桿結(jié)構(gòu)包括第一頂桿和第二頂桿,所述第一頂桿與第二頂桿固定連接,所述第一頂桿呈倒“T”型,且所述第一頂桿設(shè)置在所述下座體內(nèi),并貫穿所述上座體與所述電容芯片相抵接,所述第二頂桿的直徑與第一頂桿的下端面一致,所述第一頂桿的“T”字臺階兩側(cè)均設(shè)有復(fù)位彈簧,所述復(fù)位彈簧的上端抵接所述上座體,且所述復(fù)位彈簧的上端低于所述電容芯片的下端。
進(jìn)一步地,所述第二頂桿的下端設(shè)有旋轉(zhuǎn)帽。
進(jìn)一步地,所述測試蓋包括上蓋體和下蓋體,所述測試座上設(shè)有上蓋板,所述下蓋體與所述上蓋板固定連接,所述卡緊裝置和旋轉(zhuǎn)裝置均設(shè)置在所述上蓋體與下蓋體之間,所述電容芯片穿過所述下蓋體,所述測試針穿過所述下蓋板與所述電容芯片相抵接。
進(jìn)一步地,所述卡緊裝置包括設(shè)置在所述上蓋體上的卡勾和設(shè)置在所述下蓋體上的卡槽,所述卡勾與所述卡槽卡接。
進(jìn)一步地,所述旋轉(zhuǎn)裝置包括設(shè)置在所述上蓋體上的連接件和設(shè)置在所述下蓋體上的樞孔,所述連接件與所述樞孔樞軸連接。
本實用新型提供的一種電容芯片測試插座,定位準(zhǔn)確、有效,高頻測試性能好,測試穩(wěn)定性和可靠性高,測試后芯片容易取出,芯片無外形損傷,使用壽命長。
附圖說明
圖1為本實用新型的爆炸結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型的截面示意圖。
圖中:
1-測試蓋;11-上蓋體;12-下蓋體;2-測試座;21-上座體;22-下座體;3-上蓋板;4-卡緊裝置;41-卡勾;42-卡槽;5-旋轉(zhuǎn)裝置;51-連接件;52-樞孔;6-螺旋頂桿結(jié)構(gòu);61-第一頂桿;62-第二頂桿;63-復(fù)位彈簧;7-電容芯片;8-測試針。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本實用新型的較佳實施例進(jìn)行詳細(xì)闡述,以使本實用新型的優(yōu)點和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對本實用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于法特迪精密科技(蘇州)有限公司,未經(jīng)法特迪精密科技(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201820004034.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





