[實用新型]電容芯片測試插座

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820004034.1
• 申請日: 2018-01-02
• 公開（公告）號: CN207923937U
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設計）人: 甘貞龍;李成君;侯燕兵
• 申請（專利權）人: 法特迪精密科技（蘇州)有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 張歡勇

1.一種電容芯片測試插座，包括測試蓋(1)和測試座(2)，所述測試蓋(1)設置在所述測試座(2)的上方，所述測試座(2)與測試蓋(1)可翻轉連接，所述測試座(2)與測試蓋(1)之間設有卡緊裝置(4)和旋轉裝置(5)，所述卡緊裝置(4)設置在旋轉裝置(5)相對的一側，其特征在于：所述測試蓋(1)與測試座(2)之間設置有電容芯片(7)，所述測試座(2)包括上座體(21)和下座體(22)，所述上座體(21)與下座體(22)通過螺栓連接，所述測試座(2)底部設置有螺旋頂桿結構(6)，所述螺旋頂桿結構(6)貫穿所述測試座(2)與所述電容芯片(7)相抵接，所述測試座(2)上設有若干測試針(8)，所述電容芯片(7)與若干所述測試針(8)卡接。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種電容芯片測試插座，其特征在于：所述螺旋頂桿結構(6)包括第一頂桿(61)和第二頂桿(62)，所述第一頂桿(61)與第二頂桿(62)固定連接，所述第一頂桿(61)呈倒“T”型，且所述第一頂桿(61)設置在所述下座體(22)內(nèi)，并貫穿所述上座體(21)與所述電容芯片(7)相抵接，所述第二頂桿(62)的直徑與第一頂桿(61)的下端面一致，所述第一頂桿(61)的“T”字臺階兩側均設有復位彈簧(63)，所述復位彈簧(63)的上端抵接所述上座體(21)，且所述復位彈簧(63)的上端低于所述電容芯片(7)的下端。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種電容芯片測試插座，其特征在于：所述第二頂桿(62)的下端設有旋轉帽。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種電容芯片測試插座，其特征在于：所述測試蓋(1)包括上蓋體(11)和下蓋體(12)，所述測試座(2)上設有上蓋板(3)，所述下蓋體(12)與所述上蓋板(3)固定連接，所述卡緊裝置(4)和旋轉裝置(5)均設置在所述上蓋體(11)與下蓋體(12)之間，所述電容芯片(7)穿過所述下蓋體(12)，所述測試針(8)穿過所述下蓋體(12)與所述電容芯片(7)相抵接。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種電容芯片測試插座，其特征在于：所述卡緊裝置(4)包括設置在所述上蓋體(11)上的卡勾(41)和設置在所述下蓋體(12)上的卡槽(42)，所述卡勾(41)與所述卡槽(42)卡接。

6.根據(jù)權利要求4所述的一種電容芯片測試插座，其特征在于：所述旋轉裝置(5)包括設置在所述上蓋體(11)上的連接件(51)和設置在所述下蓋體(12)上的樞孔(52)，所述連接件(51)與所述樞孔(52)樞軸連接。