[發明專利]一種處理器測試方法、相關裝置和設備

在審

• 申請號: 201811653379.0
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111382021A
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發明（設計）人: 王東;曹慶新
• 申請（專利權）人: 深圳云天勵飛技術有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F11/22
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

本公開實施例公開了一種處理器測試方法和裝置以及存儲介質，該方法包括：獲取第一類測試指令，將所述第一類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第一覆蓋率；所述第一類測試指令包括對處理器進行測試的通用測試指令；獲取第二類測試指令，將所述第二類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第二覆蓋率；所述第二類測試指令包括對所述待測試處理器的指定功能進行測試的指定測試指令。采用本公開實施例，能夠快速、高效地測試到處理器所有功能點。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種處理器測試方法、相關裝置和設備。

背景技術

隨著科學技術的不斷發展，人們對處理器的需求也不斷增加。比較常用的幾類處理器如：圖形處理器GPU、數字信號處理器DSP、專用集成電路ASIC、專用指令集處理器ASIP，這些處理器在生產出來投入使用之前都要經過測試，測試出產品能實現功能且無損壞才會投入使用。而當前處理器的測試方法復雜，而且對于有專用功能的處理器，測試無法高效覆蓋到處理器中所有的功能點。

發明內容

本公開實施例提供一種處理器測試技術。

第一方面，公開了一種處理器測試方法，包括；

獲取第一類測試指令，將所述第一類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第一覆蓋率；所述第一類測試指令包括對處理器進行測試的通用測試指令；

獲取第二類測試指令，將所述第二類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第二覆蓋率；所述第二類測試指令包括對所述待測試處理器的指定功能進行測試的指定測試指令。

在一種可能的實現方式中，所述方法，還包括：

基于所述第一覆蓋率和所述第二覆蓋率反饋的測試漏洞，再次對所述待測試處理器進行測試。

在一種可能的實現方式中，所述獲取第一類測試指令，將所述第一類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第一覆蓋率，包括：

獲取隨機激勵；所述隨機激勵包括根據第一類測試用例生成的激勵，所述第一類測試用例包括基于所述第一類測試指令構造的測試用例；

通過所述隨機激勵對待測試處理器進行測試，反饋隨機激勵覆蓋率。

在一種可能的實現方式中，所述獲取第二類測試指令，將所述第二類測試指令輸入待測試處理器進行測試，并反饋第二覆蓋率，包括：

獲取直接激勵；所述直接激勵包括根據第二類測試用例生成的激勵，所述第二類測試用例包括基于所述第二類測試指令構造的測試用例；

通過所述直接激勵對待測試處理器進行測試，反饋直接激勵覆蓋率。

在一種可能的實現方式中，所述通過所述隨機激勵對待測試處理器進行測試，反饋隨機激勵覆蓋率，包括：

構建隨機激勵測試框架，所述隨機測試激勵框架包括待測試處理器和參考模型；

獲取測試背景參數，所述測試背景參數通過將所述待測試處理中的原始背景參數隨機初始化得到；

利用所述隨機激勵和所述測試背景參數測試所述待測試處理器得到隨機仿真結果，并利用所述隨機激勵和所述測試背景參數測試所述參考模型得到隨機參考結果；

基于所述隨機仿真結果和隨機參考結果反饋所述隨機激勵功能的正確性以及所述隨機激勵覆蓋率。

在一種可能的實現方式中，基于所述隨機仿真結果和隨機參考結果反饋所述隨機激勵功能的正確性以及所述隨機激勵覆蓋率之后，包括：