[發明專利]一種處理器測試方法、相關裝置和設備在審
| 申請號: | 201811653379.0 | 申請日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN111382021A | 公開(公告)日: | 2020-07-07 |
| 發明(設計)人: | 王東;曹慶新 | 申請(專利權)人: | 深圳云天勵飛技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/26 | 分類號: | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍崗區園山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 處理器 測試 方法 相關 裝置 設備 | ||
1.一種處理器測試方法,其特征在于,包括:
獲取第一類測試指令,將所述第一類測試指令輸入待測試處理器進行測試,并反饋第一覆蓋率;所述第一類測試指令包括對處理器進行測試的通用測試指令;
獲取第二類測試指令,將所述第二類測試指令輸入待測試處理器進行測試,并反饋第二覆蓋率;所述第二類測試指令包括對所述待測試處理器的指定功能進行測試的指定測試指令。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
基于所述第一覆蓋率和所述第二覆蓋率反饋的測試漏洞,再次對所述待測試處理器進行測試。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取第一類測試指令,將所述第一類測試指令輸入待測試處理器進行測試,并反饋第一覆蓋率,包括:
獲取隨機激勵;所述隨機激勵包括根據第一類測試用例生成的激勵,所述第一類測試用例包括基于所述第一類測試指令構造的測試用例;
通過所述隨機激勵對待測試處理器進行測試,反饋隨機激勵覆蓋率。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取第二類測試指令,將所述第二類測試指令輸入待測試處理器進行測試,并反饋第二覆蓋率,包括:
獲取直接激勵;所述直接激勵包括根據第二類測試用例生成的激勵,所述第二類測試用例包括基于所述第二類測試指令構造的測試用例;
通過所述直接激勵對待測試處理器進行測試,反饋直接激勵覆蓋率。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述通過所述隨機激勵對待測試處理器進行測試,反饋隨機激勵覆蓋率,包括:
構建隨機激勵測試框架,所述隨機測試激勵框架包括待測試處理器和參考模型;
獲取測試背景參數,所述測試背景參數通過將所述待測試處理中的原始背景參數隨機初始化得到;
利用所述隨機激勵和所述測試背景參數測試所述待測試處理器得到隨機仿真結果,并利用所述隨機激勵和所述測試背景參數測試所述參考模型得到隨機參考結果;
基于所述隨機仿真結果和隨機參考結果反饋所述隨機激勵功能的正確性以及所述隨機激勵覆蓋率。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述通過所述直接激勵對待測試處理器進行測試,反饋直接激勵覆蓋率,包括:
構建直接激勵測試框架,所述直接測試激勵框架包括待測試處理器和參考模型;
獲取網絡模型數據,所述網絡模型參數為待測試處理中執行特定功能產生的數據;
利用所述直接激勵和所述網絡模型數據測試所述待測試處理器得到直接仿真結果,并利用所述直接激勵和所述網絡模型數據測試所述參考模型得到直接參考結果;
基于所述直接仿真結果和直接參考結果反饋所述直接激勵功能的正確性以及直接激勵覆蓋率。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述獲取直接激勵,包括:
將所述網絡模型數據間的相互關系用數據關系表格表示,根據所述數據關系表格生成所述第一類測試指令;
基于所述第一類測試指令,構造直接激勵。
8.一種處理器測試裝置,其特征在于,包括用于執行如權利要求1-7任一項所述的方法的單元。
9.一種處理器測試設備,其特征在于,包括處理器、輸入設備、輸出設備和存儲器,所述處理器、輸入設備、輸出設備和存儲器相互連接,其中,所述存儲器用于存儲應用程序代碼,所述處理器被配置用于調用所述程序代碼,執行如權利要求1-7任一項所述的方法。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機存儲介質存儲有計算機程序,所述計算機程序包括程序指令,所述程序指令當被處理器執行時使所述處理器執行如權利要求1-7任一項所述的方法。
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