[發明專利]射頻讀寫器、測試信號的選擇方法及存儲介質

有效

• 申請號: 201811643485.0
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111382587B
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 李煜;吳雷;王鵬鵬
• 申請（專利權）人: 武漢萬集信息技術有限公司
• 主分類號: G06K7/10
• 分類號: G06K7/10
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟;董文倩

1.一種射頻讀寫器，其特征在于，包括：主控模塊、本振模塊、解析模塊、環形器、第一耦合器、第二耦合器，測試信號生成模塊，射頻發射模塊和載波對消模塊，其中，

所述測試信號生成模塊，用于接收所述主控模塊發送的偽隨機序列，和所述本振模塊發送的本振信號，并將所述偽隨機序列變頻到與所述本振信號相同的頻段，得到調制信號；

所述測試信號生成模塊，還用于執行第一操作，所述第一操作包括：根據從所述主控模塊接收到的第一控制信息對所述調制信號的衰減量進行調整，得到調整后的測試信號，并將調整后的測試信號發送至與所述測試信號生成模塊連接的第一耦合器中，其中，所述第一耦合器與環形器連接；

所述主控模塊，用于接收所述解析模塊對第一合成信號的解析結果，并根據所述解析結果確定所述測試信號的誤碼率，并在所述誤碼率不滿足預設條件的情況下，指示所述測試信號生成模塊循環執行所述第一操作，以使所述誤碼率滿足預設條件，在滿足預設條件的誤碼率所對應的多個測試信號中，選擇出功率最小的測試信號，其中，所述第一合成信號包括：對消后的載波信號和所述第一耦合器輸入至所述第二耦合器的第二合成信號，其中，所述第二合成信號包括：隔離后的載波信號和所述測試信號生成模塊發送至所述第一耦合器的所述測試信號；

所述射頻發射模塊，用于將從所述本振模塊接收到的所述本振信號轉化為載波信號，并將所述載波信號分別發送至所述環形器和所述載波對消模塊；

所述環形器用于對所述載波信號進行隔離后，輸出所述隔離后的載波信號；

所述載波對消模塊，用于對所述載波信號進行對消后，生成所述對消后的載波信號。

2.根據權利要求1所述的射頻讀寫器，其特征在于，所述測試信號生成模塊，包括：衰減器、PIN管、調節模塊，其中，

所述衰減器，與所述PIN管連接，用于對所述測試信號生成模塊接收到的所述調制信號進行衰減，得到衰減信號，并將所述衰減信號發送至所述PIN管；

所述調節模塊，用于從所述主控模塊接收所述第一控制信息，并根據所述第一控制信息所指示的衰減量指示所述PIN管對接收到的衰減信號進行衰減，得到所述測試信號。

3.根據權利要求2所述的射頻讀寫器，其特征在于，所述測試信號生成模塊，還包括：第一開關、第二開關，其中，

所述第一開關和所述第二開關，用于接收所述主控模塊發送的第二控制信息，其中，所述第二控制信息用于指示所述第一開關與所述衰減器連接，以及所述第二開關與所述PIN管連接，以使所述第一開關、所述衰減器、所述PIN管、所述第二開關導通。

4.根據權利要求3所述的射頻讀寫器，其特征在于，所述測試信號生成模塊，還包括：第一負載，第二負載，其中，

所述第一開關和所述第二開關，用于接收所述主控模塊發送的第三控制信息，其中，所述第三控制信息用于指示所述第一開關與所述第一負載連接，所述第二開關與所述第二負載連接。

5.根據權利要求1所述的射頻讀寫器，其特征在于，還包括：

所述第二耦合器用于接收所述第一耦合器發送的所述第二合成信號，和所述載波對消模塊發送的所述對消后的載波信號，并合成所述第二合成信號和所述對消后的載波信號得到所述第一合成信號；

其中，所述第二合成信號是由所述第一耦合器對所述環形器發送的隔離后的載波信號和所述測試信號生成模塊發送的所述測試信號進行合成后得到的信號。

6.一種測試信號的選擇方法，其特征在于，應用于權利要求1至5中任一項的射頻讀寫器，其特征在于，包括：

主控模塊向測試信號生成模塊發送第一控制信息，以使所述測試信號生成模塊在所述第一控制信息的指示下執行所述第一操作；

主控模塊接收解析模塊對第一合成信號的解析結果，并根據所述解析結果確定所述測試信號的誤碼率，在所述誤碼率不滿足預設條件的情況下，指示所述測試信號生成模塊循環執行所述第一操作，以使所述誤碼率滿足預設條件，在滿足預設條件的誤碼率所對應的多個測試信號中，選擇出功率最小的測試信號。