[發(fā)明專利]一種ELISA分析儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811637624.9
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109520930A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發(fā)明（設計）人: 謝孝民;孫玉平;郭金城;聶富強
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州汶顥微流控技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N33/53
• 代理公司: 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 32257
• 代理人: 徐洋洋

本發(fā)明公開了一種ELISA分析儀，屬于自動化檢測設備技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的ELISA分析儀在機架上安裝有X軸組件、固定安裝在X軸組件上的Z軸組件、沿X方向排布的試劑放置機構(gòu)、清洗機構(gòu)和芯片固定機構(gòu)，以及檢測機構(gòu)；X軸組件驅(qū)動Z軸組件在X方向移動；Z軸組件上安裝有注射機構(gòu)，Z軸組件驅(qū)動其在Z方向移動；試劑放置機構(gòu)、清洗機構(gòu)和芯片固定機構(gòu)在注射機構(gòu)下方；檢測機構(gòu)包括激光發(fā)射器、光信號檢測器和在激光發(fā)射器與光信號檢測器之間的第一透光孔、濾光板和第二透光孔，第一透光孔與第二透光孔同軸設置。本發(fā)明實現(xiàn)全自動檢測，且檢測機構(gòu)能夠利用光的直線傳播和黑色材料吸光原理，有效排除干擾光線，提高檢測靈敏度及檢測精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種ELISA分析儀，屬于自動化檢測設備技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

ELISA是一種免疫測定(immunoassay，IA)，基礎(chǔ)是抗原或抗體的固相化及抗原或抗體的酶標記。加入酶反應的底物后，底物被酶催化成為有色產(chǎn)物，產(chǎn)物的量與標本中受檢物質(zhì)的量直接相關(guān)，由此進行定性或定量分析。由于各種抗原成份，包括小分子的半抗原，均可用以制備特異性的抗血清或單克隆抗體，利用此抗體作為試劑就可檢測標本中相應的抗原，因此免疫測定的應用范圍極廣。

ELISA分析儀的核心都是一個比色計，用比色法來分析抗原或抗體的含量，還包括加樣、保溫、洗滌、顯色等操作步驟。ELSIA操作步驟復雜，影響反應因素較多，特別是固相載體的包被難達到各個體之間的一致，因此在定量測定中，每批測試均須用一系列不同濃度的參考標準品在相同的條件下制作標準曲線。現(xiàn)有的ELISA分析儀基本是分離式的酶聯(lián)免疫儀器，各個步驟分別進行操作，操作繁瑣，容易出錯，并且誤差影響因素較大。此外，現(xiàn)有的ELISA分析儀的光檢測系統(tǒng)中，對干擾光線的排除效果不佳，對檢測靈敏度影響較大，或者是需要采用暗盒進行操作，操作繁瑣，且對設備的要求較高。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種ELISA分析儀，本發(fā)明的ELISA分析儀為高集成度的自動化分析檢測設備，具有自動取樣加樣、自動清洗、自動控溫、自動檢測等功能，并且本發(fā)明設計的光路檢測機構(gòu)，能夠利用光的直線傳播和黑色材料吸光的原理，有效排除干擾光線，提高檢測靈敏度及檢測精度。

本發(fā)明的第一個目的是提供一種ELISA分析儀，包括機架；

所述機架上安裝有X軸組件、Z軸組件、試劑放置機構(gòu)、清洗機構(gòu)、芯片固定機構(gòu)和檢測機構(gòu)；

所述的Z軸組件固定安裝在X軸組件上，可由X軸組件驅(qū)動在X方向移動；所述的Z軸組件上安裝有注射機構(gòu)，所述的注射機構(gòu)可由Z軸組件驅(qū)動在Z方向上下移動；結(jié)合Z軸組件可由X軸組件驅(qū)動在X方向移動，注射機構(gòu)能夠在X方向和Z方向進行移動；

所述的試劑放置機構(gòu)、清洗機構(gòu)和芯片固定機構(gòu)安裝在注射機構(gòu)的下方，并且試劑放置機構(gòu)、清洗機構(gòu)和芯片固定機構(gòu)沿X方向排布；注射機構(gòu)能夠在試劑放置機構(gòu)和芯片固定機構(gòu)之間移動，進行加樣、取樣、清洗等操作；

所述的檢測機構(gòu)包括激光發(fā)射器、光信號檢測器和依次設置在激光發(fā)射器與光信號檢測器之間的第一透光孔、濾光板和第二透光孔，所述的第一透光孔與第二透光孔同軸設置，所述的檢測機構(gòu)采用黑色材料制備。

進一步地，檢測時，芯片置于激光發(fā)射器與第一透光孔之間。

進一步地，所述的濾光板為透過激光發(fā)射器發(fā)射波長的濾光板。

進一步地，所述的檢測機構(gòu)還包括激光發(fā)射器限位裝置，所述的激光發(fā)射器限位裝置包括第三透光孔與激光發(fā)射器限位孔，所述的第三透光孔與第一透光孔同軸設置。激光發(fā)射器發(fā)射的光經(jīng)過第三透光孔射出，透過待檢測芯片，然后依次經(jīng)過第一透光孔、濾光片和第二透過孔，達到光信號檢測器進行檢測。