[發明專利]一種ELISA分析儀在審
| 申請號： | 201811637624.9 | 申請日： | 2018-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN109520930A | 公開（公告）日： | 2019-03-26 |
| 發明（設計）人： | 謝孝民;孫玉平;郭金城;聶富強 | 申請（專利權）人： | 蘇州汶顥微流控技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/01 | 分類號： | G01N21/01;G01N33/53 |
| 代理公司： | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 徐洋洋 |
| 地址： | 215808 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 透光孔 分析儀 光信號檢測器 激光發射器 放置機構 清洗機構 芯片固定 注射機構 自動化檢測設備 檢測靈敏度 全自動檢測 驅動 黑色材料 同軸設置 直線傳播 濾光板 排布 吸光 檢測 | ||
1.一種ELISA分析儀，包括機架；其特征在于，
所述機架上安裝有X軸組件、Z軸組件、試劑放置機構、清洗機構、芯片固定機構和檢測機構；
所述的Z軸組件固定安裝在X軸組件上，可由X軸組件驅動在X方向移動；所述的Z軸組件上安裝有注射機構，所述的注射機構可由Z軸組件驅動在Z方向上下移動；
所述的試劑放置機構、清洗機構和芯片固定機構安裝在注射機構的下方，并且試劑放置機構、清洗機構和芯片固定機構沿X方向排布；
所述的檢測機構包括激光發射器、光信號檢測器和依次設置在激光發射器與光信號檢測器之間的第一透光孔、濾光板和第二透光孔，所述的第一透光孔與第二透光孔同軸設置，所述的檢測機構采用黑色材料制備。
2.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的濾光板為透過激光發射器發射波長的濾光板。
3.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的檢測機構還包括激光發射器限位裝置，所述的激光發射器限位裝置包括第三透光孔與激光發射器限位孔，所述的第三透光孔與第一透光孔同軸設置。
4.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的試劑放置機構包括第一溫度控制裝置、孔板和設置在試劑孔板上的蓋體；所述的蓋體可在X方向移動。
5.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的清洗機構包括清洗槽和噴淋裝置。
6.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的芯片固定機構包括芯片支撐架、卡件和第二溫度控制裝置。
7.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的檢測機構設置在芯片固定機構一側，且可沿Y方向移動。
8.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的X軸組件通過電機驅動機構或氣缸驅動Z軸組件在X方向進行移動。
9.根據權利要求1所述的一種ELISA分析儀，其特征在于，所述的Z軸組件通過電機驅動機構或氣缸驅動注射機構在Z方向進行移動。
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