[發(fā)明專利]存儲系統(tǒng)和存儲系統(tǒng)的操作方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811634890.6
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN110362420B
• 公開（公告）日: 2023-06-16
• 發(fā)明（設計）人: 郭康燮;金起業(yè);尹榮俊
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京弘權知識產(chǎn)權代理有限公司 11363
• 代理人: 許偉群;郭放

1.一種存儲系統(tǒng)，包括：

存儲單元陣列，其適用于儲存第一數(shù)據(jù)和第一奇偶校驗位，所述第一奇偶校驗位用于校正所述第一數(shù)據(jù)的錯誤；以及

錯誤校正電路，其適用于產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)和第二奇偶校驗位，所述第二奇偶校驗位包括通過校正所述第一奇偶校驗位的錯誤而得到的比特位和通過校正第二子奇偶校驗位的錯誤而得到的比特位；

其中，所述錯誤校正電路包括：

單錯誤校正和雙錯誤檢測SECDED奇偶校驗位發(fā)生器，其適用于產(chǎn)生第二預奇偶校驗位，所述第二預奇偶校驗位包括第一子奇偶校驗位和第二子奇偶校驗位；

校正子解碼器，其適用于通過對校正子進行解碼來產(chǎn)生第一奇偶校驗位錯誤標志和第一數(shù)據(jù)錯誤標志；

SEC奇偶校驗位校正器，其適用于基于所述第一奇偶校驗位錯誤標志來校正所述第一奇偶校驗位的錯誤；

DED奇偶校驗位錯誤檢測器，其適用于基于用于產(chǎn)生所述第二子奇偶校驗位的第一數(shù)據(jù)的錯誤信息來產(chǎn)生第二子奇偶校驗位錯誤標志；

DED奇偶校驗位校正器，其適用于基于所述第二子奇偶校驗位錯誤標志來校正所述第二子奇偶校驗位的任何錯誤；以及

其中，所述錯誤校正電路還包括：

校正子發(fā)生器，其適用于根據(jù)漢明碼通過對所述第一數(shù)據(jù)、所述第一子奇偶校驗位和所述第一奇偶校驗位執(zhí)行XOR運算來產(chǎn)生所述校正子。

2.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，其中，所述錯誤校正電路還包括：

數(shù)據(jù)校正器，其適用于通過校正所述第一數(shù)據(jù)的錯誤來產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，所述第一奇偶校驗位錯誤標志表示所述第一奇偶校驗位的錯誤位置信息；以及

其中，所述第一數(shù)據(jù)錯誤標志表示所述第一數(shù)據(jù)的錯誤位置信息。

4.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，所述SECDED奇偶校驗位發(fā)生器對根據(jù)漢明碼在所述第一數(shù)據(jù)之中選擇的數(shù)據(jù)比特位執(zhí)行XOR運算。

5.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，所述第二子奇偶校驗位錯誤標志表示所述第二子奇偶校驗位的錯誤存在信息。

6.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，所述DED奇偶校驗位錯誤檢測器通過對所述第一數(shù)據(jù)的用于產(chǎn)生所述第二子奇偶校驗位的比特位執(zhí)行OR門控操作來檢測所述第二子奇偶校驗位的錯誤。

7.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，當所述第二子奇偶校驗位錯誤標志具有邏輯低電平時，所述DED奇偶校驗位校正器輸出所述第二子奇偶校驗位而不做改變，以及

當所述第二子奇偶校驗位錯誤標志具有邏輯高電平時，所述DED奇偶校驗位校正器將所述第二子奇偶校驗位反相，并輸出所述第二子奇偶校驗位的反相比特位。

8.根據(jù)權利要求2所述的存儲系統(tǒng)，

其中，當所述第一數(shù)據(jù)錯誤標志的比特位之中的第一數(shù)據(jù)錯誤標志比特位具有邏輯低電平時，所述數(shù)據(jù)校正器輸出所述第一數(shù)據(jù)的比特位之中的與所述第一數(shù)據(jù)錯誤標志比特位相對應的第一數(shù)據(jù)比特位而不做改變，以及

當所述第一數(shù)據(jù)錯誤標志比特位具有邏輯高電平時，所述數(shù)據(jù)校正器將所述第一數(shù)據(jù)比特位反相，并輸出反相的第一數(shù)據(jù)比特位。

9.根據(jù)權利要求1所述的存儲系統(tǒng)，

其中，當所述第一奇偶校驗位錯誤標志的比特位之中的第一奇偶校驗位錯誤標志比特位具有邏輯低電平時，所述SEC奇偶校驗位校正器輸出所述第一奇偶校驗位的比特位之中的與所述第一奇偶校驗位錯誤標志比特位相對應的第一奇偶校驗位比特位而不做改變，以及

當所述第一奇偶校驗位錯誤標志比特位具有邏輯高電平時，所述SEC奇偶校驗位校正器將所述第一奇偶校驗位比特位反相，并輸出反相的第一奇偶校驗位比特位。