[發明專利]一種眾核芯片的測試方法、裝置及測試設備

有效

• 申請號: 201811630342.6
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111381147B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 孟樑;閻亞茹
• 申請（專利權）人: 北京靈汐科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京麥寶利知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11733
• 代理人: 趙艷紅

1.一種眾核芯片的測試方法，其特征在于，包括：

向待測試的眾核芯片的各個內核輸入相同的測試向量，其中，所述眾核芯片的內核包括m個內核組，所述m個內核組中的每個內核組包含n個內核，所述m個內核組中物理實現相同的內核具有相同的組內標識，且同一內核組中的所述n個內核的組內標識互不相同，其中，m為大于2的整數，n為大于1的整數；

判斷所述m個內核組中具有相同組內標識的內核的輸出的測試結果向量是否完全相同；

如果所述m個內核組中所有所述具有相同組內標識的內核輸出的測試結果向量都相同，則確定所述待測試的所述眾核芯片無故障。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，判斷所述m個內核組中所述具有相同組內標識的內核的輸出的測試結果向量是否完全相同，包括：

比較所述m個內核組中的每兩個內核組中具有相同組內標識的內核的輸出的測試結果向量是否相同。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述m個內核組中的每兩個內核組中的組內標識相同的內核輸出的測試結果向量不完全相同的情況下，所述方法還包括：

步驟1，比較所述m個內核組中的m-1個內核組中所有組內標識相同的內核的輸出的測試結果向量是否相同，如果完全相同，則確定所述m-1個內核組中的各個內核無故障，且所述m個內核組中除所述m-1個內核組之外的另一個內核組為故障組；如果不完全相同，執行步驟2；

步驟2，判斷m-1是否等于2，如果是，則確定所述m-1個內核組為故障組，否則，繼續比較所述m-1個內核組的m-2個內核組中所有組內標識相同的內核的輸出的測試結果向量是否相同，直到確定出故障組。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在確定出故障組之后，所述方法還包括：

將所述故障組中每個內核的測試結果向量分別輸出到芯片管腳，與所述測試向量的期待值進行比較，根據比較結果判斷所述故障組中的所述每個內核是否出現故障。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，判斷所述m個內核組中所述具有相同組內標識的內核的輸出的測試結果向量是否完全相同，包括：

從所述m個內核組中選取第一內核組，比較所述第一內核組與其余m-1個內核組的各個內核組中具有相同組內標識的兩個內核的輸出的測試結果向量是否都相同。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，如果所述第一內核組與所述其余m-1個內核組中的各個內核組中組內標識相同的兩個內核輸出的所述測試結果向量不完全相同，所述方法還包括：

將所述第一內核組中的每個內核輸出的測試結果向量與所述測試向量的期待值進行比較，如果所述第一內核組中每個內核輸出的測試結果向量與所述測試向量的期待值不一致，則確定所述第一內核組為故障組。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，如果所述第一內核組中的所述每個內核輸出的測試結果向量與所述測試向量的期待值一致，所述方法還包括：

確定所述第一內核組中的各個內核無故障；

將所述其余m-1個內核組作為待判定內核組；

如果待判定內核組中只有一個內核組，則確定所述待判定內核組為故障組；否則，

從所述待判定內核組中選取第二內核組，將所述第二內核組分別與所述m-1個內核組中除所述第二內核組之外的m-2個內核組進行比較；

如果所述第二內核組與所述m-2個內核組的組內標識相同的內核進行兩兩相比的結果不完全相同，則將所述第二內核組中的每個內核輸出的測試結果向量與所述測試向量的期待值比較，如果比較結果不一致，則確定所述第二內核組為故障組，如果比較結果一致，則確定所述第二內核組為非故障組，將所述待判定內核組中的除所述第二內核組之外的其余m-2個內核組作為新的待判定內核組，繼續進行判斷，直到所述m個內核組全部判斷完畢。