[發明專利]射頻識別防碰撞性能測試方法、測試儀器及存儲介質

有效

• 申請號: 201811624502.6
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109711222B
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 陳柯;劉子軍
• 申請（專利權）人: 重慶唯申科技有限公司
• 主分類號: G06K7/10
• 分類號: G06K7/10
• 代理公司: 重慶敏創專利代理事務所(普通合伙) 50253
• 代理人: 陳千

本發明公開的射頻識別防碰撞性能測試方法、測試儀器及存儲介質，基于預先設置的與每一測試條件參數對應的測試值集合對測試儀器的測試條件參數的值進行設置，測試儀器基于這種設置對待測電子標簽進行盤點，記錄盤點過程中待測電子標簽產生的防碰撞參數值，建立防碰撞參數值與測試條件參數取值組合的映射關系，對待測電子標簽進行多次盤點，從而得到每一防碰撞參數的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一種，直至按照上述過程遍歷測試條件參數的所有取值組合，這樣就可以得到各測試條件參數取值組合與防碰撞參數相關的值的映射關系，然后基于該映射關系對待測電子標簽的防碰撞性能進行評估，從而可以得到更全面、可重現、更加準確的測試結果。

技術領域

本發明涉及射頻識別技術領域，更具體地說，涉及一種射頻識別防碰撞性能測試方法、測試儀器及存儲介質。

背景技術

射頻識別通信過程中需要解決在同一個系統中多個設備之間同時通信的碰撞問題，尤其是單個讀寫器與多個標簽通信的碰撞問題。限于成本和功耗的因素，標簽只能夠提供有限的功能用于實現防碰撞機制，目前多標簽的防碰撞算法主要分為基于時隙的隨機性算法(Al oha)和基于二叉樹的確定性算法(B i nary Tree)兩大類。

現有射頻識別防碰撞性能測試方法，通常是將若干個被測標簽排列為二維陣列，或者將若干個被測標簽和若干個基準標簽混合排列為二維陣列，使用基準讀寫器對上述標簽陣列進行盤點，通過記錄基準讀寫器從開始盤點到盤點結束所用的時間，以及記錄基準讀寫器盤點到的標簽數量，作為防碰撞性能的測試結果。

但這類測試方法受限于基準讀寫器能夠提供的功能，往往導致測試結果不全面，其次這類測試方法無法對防碰撞性能得出定量的測試結果，在發生盤點時間長，以及盤點數量低時，無法找到導致問題發生的根本原因，從而無法指導讀寫器和標簽如何改進以提高防碰撞性能。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供一種射頻識別防碰撞性能測試方法及測試儀器。

為實現上述目的，本發明所采用的具體技術方案如下：

一種射頻識別防碰撞性能測試方法，包括：

S11：測試儀器基于預先設置的與每一測試條件參數對應的測試值集合對所述測試儀器相應的測試條件參數的值進行設置；

S12：所述測試儀器對待測電子標簽進行一次盤點；

S13：記錄每次盤點過程中所述待測電子標簽產生的防碰撞參數值，并建立所述防碰撞參數值和所述測試條件參數當前的取值組合的映射關系，所述防碰撞參數值包括時隙值、隨機數值和鏈接時序值中的至少一種；

S14：針對所述測試條件參數當前的取值組合，判斷其盤點次數之和是否達到預設的盤點次數總和，如是，轉至S15，否則，轉至S12；

S15：分別對與所述測試條件參數當前的取值組合對應的每一防碰撞參數值進行統計，根據統計結果計算每一防碰撞參數的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一種；

S16：判斷是否遍歷所述測試條件參數的所有取值組合，如是，轉至S17，否則，轉至S11；

S17：基于各測試條件參數取值組合對應的每一防碰撞參數的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一種對各測試條件參數取值組合下的所述待測電子標簽的防碰撞性能進行評估。

進一步地，所述測試條件參數包括前向鏈路基準時間、反向鏈路鏈接頻率、反向鏈路編碼方式、標簽接入數目控制參數和接入幀時隙總數中的至少一種。

進一步地，所述待測電子標簽的數量為多個，所述S13包括：

針對每一所述待測電子標簽，分別記錄每次盤點過程中該待測電子標簽產生的防碰撞參數值，并建立該待測電子標簽產生的防碰撞參數值和所述測試條件參數當前的取值組合的映射關系。