[發明專利]射頻識別防碰撞性能測試方法、測試儀器及存儲介質

有效

• 申請號: 201811624502.6
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109711222B
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 陳柯;劉子軍
• 申請（專利權）人: 重慶唯申科技有限公司
• 主分類號: G06K7/10
• 分類號: G06K7/10
• 代理公司: 重慶敏創專利代理事務所(普通合伙) 50253
• 代理人: 陳千

1.一種射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，包括：

S11：測試儀器基于預先設置的與每一測試條件參數對應的測試值集合對所述測試儀器相應的測試條件參數的值進行設置；

S12：所述測試儀器對待測電子標簽進行一次盤點；

S13：記錄每次盤點過程中所述待測電子標簽產生的防碰撞參數值，并建立所述防碰撞參數值和所述測試條件參數當前的取值組合的映射關系，所述防碰撞參數值包括時隙值、隨機數值和鏈接時序值中的至少一種；

S14：針對所述測試條件參數當前的取值組合，判斷其盤點次數之和是否達到預設的盤點次數總和，如是，轉至S15，否則，轉至S12；

S15：分別對與所述測試條件參數當前的取值組合對應的每一防碰撞參數值進行統計，根據統計結果計算每一防碰撞參數的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一種；

S16：判斷是否遍歷所述測試條件參數的所有取值組合，如是，轉至S17，否則，轉至S11；

S17：基于各測試條件參數取值組合對應的每一防碰撞參數的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一種對各測試條件參數取值組合下的所述待測電子標簽的防碰撞性能進行評估。

2.如權利要求1所述的射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，所述測試條件參數包括前向鏈路基準時間、反向鏈路鏈接頻率、反向鏈路編碼方式、標簽接入數目控制參數和接入幀時隙總數中的至少一種。

3.如權利要求1所述的射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，所述待測電子標簽的數量為多個，所述S13包括：

針對每一所述待測電子標簽，分別記錄每次盤點過程中該待測電子標簽產生的防碰撞參數值，并建立該待測電子標簽產生的防碰撞參數值和所述測試條件參數當前的取值組合的映射關系。

4.如權利要求1所述的射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，所述待測電子標簽的數量為1個。

5.如權利要求3所述的射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，在步驟S14之前，還包括:

S131：記錄每次盤點過程中所述測試儀器產生的命令次數、所述待測電子標簽產生的有效響應次數和碰撞次數中的至少一種；

S132：建立所述命令次數、所述有效響應次數和所述碰撞次數中的至少一種和所述測試條件參數當前的取值組合的映射關系；

在步驟S15之后，且在步驟S16之前還包括：

S151：對與所述測試條件參數當前的取值組合對應的所述命令次數、所述有效響應次數和所述碰撞次數中的至少一種進行累計，得到命令次數累計值、有效響應次數累計值和碰撞次數累計值中的至少一種，然后轉至S152；

S152：計算所述命令次數累計值、有效響應次數累計值和碰撞次數累計值中的至少一種與預設的盤點次數總和的比值關系，并結合步驟S152中的比值關系以及步驟S15中得到的碰撞參數的相關值對每一待測電子標簽的碰撞性能進行評估。

6.如權利要求5所述的射頻識別防碰撞性能測試方法，其特征在于，當得到所述命令次數累計值、所述有效響應次數累計值和所述碰撞次數累計值時，所述方法還包括：

計算所述命令次數累計值、有效響應次數累計值和碰撞次數累計值中至少兩種累計值之間的比值關系，并根據這種比值關系對多個待測電子標簽整體的防碰撞性能進行評估。

7.一種射頻識別防碰撞性能測試儀器，其特征在于，包括：處理器、存儲器及通信總線；

所述通信總線用于實現所述處理器和所述存儲器之間的連接通信；

所述處理器用于執行所述存儲器中存儲的一個或多個程序，以實現如權利要求1-6中任一項所述的射頻識別防碰撞性能測試方法的步驟。

8.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質存儲有一個或者多個程序，所述一個或者多個程序可被一個或者多個處理器執行，以實現如權利要求1-6 中任一項所述的射頻識別防碰撞性能測試方法的步驟。