[發(fā)明專利]一種太陽能電池的制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811620935.4 | 申請日: | 2018-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN111384200A | 公開(公告)日: | 2020-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔣濤 | 申請(專利權(quán))人: | 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0445 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;黃燦 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 太陽能電池 制備 方法 | ||
本發(fā)明實施例提供一種太陽能電池的制備方法,所述方法包括:在基板上制備光電轉(zhuǎn)換層,并在所述基板上形成未被所述光電轉(zhuǎn)換層覆蓋的預(yù)留區(qū);將位于所述預(yù)留區(qū)內(nèi)的預(yù)設(shè)位置作為刻劃起始點,對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第一刻劃,形成第一刻劃線。這樣,可通過靈活調(diào)節(jié)第一刻劃線的刻劃起始點來改善刻劃過程中的過刻、漏刻現(xiàn)象,降低過刻、漏刻概率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電池刻劃技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種太陽能電池的制備方法。
背景技術(shù)
銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能電池在制作過程中需要引入三次刻劃。首先,在鈉鈣玻璃襯底上鍍完鉬(Mo)背電極層后,利用激光在Mo背電極層表面進行第一次劃線將其均勻分割成一個個細長的小區(qū),將第一次刻劃記為P1,其次,繼續(xù)鍍完CIGS吸光層和硫化鎘(CdS)或氧化鋅(ZnO)緩沖層后,利用激光或機械的方式在P1右側(cè)附近并且平行于P1進行第二次刻劃,劃穿CIGS吸光層和CdS/ZnO緩沖層,將第二次刻劃記為P2;最后,鍍上摻鋁氧化鋅(AZO)頂電極層,把每個相鄰小區(qū)的AZO頂電極層和Mo背電極層連接起來,利用激光或機械的方式在P2右側(cè)附近并且平行于P2進行第三次刻劃,劃穿AZO頂電極層,切斷每個相鄰小區(qū)的AZO頂電極層和Mo背電極層的連接,將第三次刻劃記為P3。
目前,采用機械方式對CIGS薄膜太陽能電池進行刻劃時,容易發(fā)生過刻時、漏刻,若通過調(diào)整針壓的方式改善,效果并不明顯,過刻、漏刻的概率仍舊過高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種太陽能電池的制備方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中在對CIGS薄膜太陽能電池進行刻劃時,過刻、漏刻概率高的問題。
為了達到上述目的,本發(fā)明提供一種太陽能電池的制備方法,所述方法包括:
在基板上制備光電轉(zhuǎn)換層,并在所述基板上形成未被所述光電轉(zhuǎn)換層覆蓋的預(yù)留區(qū);
將位于所述預(yù)留區(qū)內(nèi)的預(yù)設(shè)位置作為刻劃起始點,對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第一刻劃,形成第一刻劃線。
進一步的,在形成第一刻劃線之后,還包括:
對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第二刻劃,形成第二刻劃線,所述第二刻劃線的起始點與所述第一刻劃線的終點重合,且所述第二刻劃線位于所述第一刻劃線的延長線上。
進一步的,在形成第二刻劃線之后,還包括:
制備電極層,所述電極層覆蓋在所述預(yù)留區(qū)和所述光電轉(zhuǎn)換層上;
將所述電極層上正對所述光電轉(zhuǎn)換層的區(qū)域內(nèi)的預(yù)設(shè)位置作為刻劃起始點,對所述電極層進行第三刻劃,形成第三刻劃線。
進一步的,在形成第三刻劃線之后,還包括:
對所述電極層進行第四刻劃,形成第四刻劃線,所述第四刻劃線的起始點與所述第三刻劃線的終點重合,且所述第四刻劃線位于所述第三刻劃線的延長線上。
進一步的,所述對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第一刻劃,形成第一刻劃線,包括:
按照第一刻劃參數(shù)對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第一刻劃,形成第一刻劃線;
所述第一刻劃參數(shù)包括第一刻劃速度和第一刻劃針壓,其中,第一刻劃速度的取值范圍為900mm/s至1100mm/s,第一刻劃針壓的取值范圍為1.5N至1.9N。
進一步的,所述對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第二刻劃,形成第二刻劃線,包括:
按照第二刻劃參數(shù)對所述光電轉(zhuǎn)換層進行第二刻劃,形成第二刻劃線;
所述第二刻劃參數(shù)包括第二刻劃速度和第二刻劃針壓,其中,第二刻劃速度的取值范圍為800mm/s至1000mm/s,第二刻劃針壓的取值范圍為0.8N至1.2N。
進一步的,所述對所述電極層進行第三刻劃,形成第三刻劃線,包括:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





