[發(fā)明專利]超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811617271.6 | 申請日： | 2018-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN109444650B | 公開（公告）日： | 2021-07-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉曉兵 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市歐珀達科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/52 | 分類號： | G01R31/52;G01R31/54 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人： | 陳衛(wèi);練逸夫 |
| 地址： | 518118 廣東省深圳*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 超大 尺寸 電容 屏單膜 短路 測試 方法 裝置 | ||
本發(fā)明涉及一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法和測試設(shè)備，包括如下步驟：對電容屏單模的金手指處設(shè)置與金手指導(dǎo)電的擴展延伸結(jié)構(gòu)。采用多個獨立測試電極單獨與每個所述金手指的末端導(dǎo)電連接，同時采用一個公共測試電極與一導(dǎo)電長條連接，并且將所述導(dǎo)電長條壓合在所述電容屏單膜上，形成電容結(jié)構(gòu)。分別讀取每個獨立測試電極與公共測試電極之間的電容值和電流值，從而確定所述電容屏單膜的是否存在開路或短路。本發(fā)明通過增加測試點設(shè)計，降低探針壓合治具的精準(zhǔn)度的要求，便于治具的制作與維護。同時保護接口處金手指位置銀漿不會受損。并利用條形導(dǎo)電體與單膜形成電容，不限于尺寸，不需要大型設(shè)備，節(jié)約測試成本，提高測試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容屏傳感器生產(chǎn)制造領(lǐng)域，特別涉及一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法及裝置。
背景技術(shù)
電容屏向來以高耐用度、高精度以及廣適用范圍等方面的優(yōu)勢越來越受到用戶的喜歡，隨著觸摸屏技術(shù)的發(fā)展，超大尺寸的電容觸摸屏成為電容觸摸屏發(fā)展的趨勢，超大尺寸的電容屏觸摸屏傳感器由TX單膜與RX單膜貼合形成，在兩種單膜貼合之前要測試單膜，確保沒有開路或者短路。
現(xiàn)有技術(shù)中，測試方法多采用的是人工使用萬用表測試，由于超大尺寸電容屏內(nèi)部信息采集點更多，因此出現(xiàn)更加密集，此方法費時費力，量產(chǎn)后會消耗很多人力。也有部分現(xiàn)有技術(shù)使用飛針測試，即在FPC的接口位置用探針假壓，從而進行測試，但是這種測試方法只測試短路，無法保證有無開路。另外也有專門在單膜另一端也用探針假壓，可同時測試開短路，但是由于接觸之處位置連接復(fù)雜，使得所采用的檢測設(shè)備造價昂貴。
而且探針測試技術(shù)會對FPC接口處的金手指造成一定的損傷，對后續(xù)工藝造成一定的不良影響，加上超大尺寸電容屏的接口位置金手指PIN數(shù)目多，PIN間距小，對探針測試治具的精度要求高，公差管控嚴(yán)格，后續(xù)維護也困難。
因此，提出一種低成本，快速有效地超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法及裝置，將有利于超大尺寸電容屏傳感器在生產(chǎn)過程中的良品率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述技術(shù)問題，提供一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法及裝置。
一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法，包括如下步驟：
S10、對電容屏單模的金手指處設(shè)置與金手指導(dǎo)電的擴展延伸結(jié)構(gòu)，以擴大金手指末端的與檢測壓針的接觸點的寬度；
S20、采用多個獨立測試電極單獨與每個所述金手指的末端導(dǎo)電連接，同時采用一個公共測試電極與一導(dǎo)電長條連接，并且將所述導(dǎo)電長條壓合在所述電容屏單膜上，形成電容結(jié)構(gòu)；
S30、分別讀取每個獨立測試電極與公共測試電極之間的電容值大小，從而確定所述電容屏單膜的是否存在開路；
S40、在特定時間間隔內(nèi)兩側(cè)檢測獨立測試電極的電流值，并根據(jù)兩個電流值的絕對差判斷所述電容屏單膜的是否存在短路。
可選的，所述步驟S30包括如下子步驟：
S31、對每個獨立測試電極與公共測試電極之間的電容值進行檢測獲得檢測值；
S32、將所述檢測值與預(yù)設(shè)電容閾值進行比較，若所述檢測值在預(yù)設(shè)電容閾值內(nèi)，則判定該路電容屏單膜合格，否則進入步驟S33；
S33、判斷所述檢測值是否為小于開路閾值，若是則判定該路電容屏單膜開路。
可選的，所述步驟S40包括如下子步驟：
S41、導(dǎo)通當(dāng)前的獨立測試電極，讀取當(dāng)前獨立測試電極的第一電流值；
S42、等待特定時間后導(dǎo)通所有獨立測試電極，并檢測步驟S41中當(dāng)前的獨立測試電極的第二電流值；
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