[發明專利]超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201811617271.6
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109444650B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 劉曉兵
• 申請（專利權）人: 深圳市歐珀達科技有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳衛;練逸夫

1.一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法，其特征在于：包括如下步驟：

S10、對電容屏單模的金手指處設置與金手指導電的擴展延伸結構，以擴大金手指末端的與檢測壓針的接觸點的寬度；

S20、采用多個獨立測試電極單獨與每個所述金手指的末端導電連接，同時采用一個公共測試電極與一導電長條連接，并且將所述導電長條壓合在所述電容屏單膜上，形成電容結構；所述導電長條壓合在所述電容屏單膜的首端，并隨檢測周期逐漸向尾端移動；

S30、分別讀取每個獨立測試電極與公共測試電極之間的電容值大小，從而確定所述電容屏單膜的是否存在開路；

S40、在特定時間間隔內兩次檢測獨立測試電極的電流值，并根據兩個電流值的絕對差判斷所述電容屏單膜的是否存在短路；

其中，所述步驟S40包括如下子步驟：

S41、導通當前的獨立測試電極，讀取當前獨立測試電極的第一電流值；

S42、等待特定時間后導通所有獨立測試電極，并檢測步驟S41中當前的獨立測試電極的第二電流值；

S43、計算所述第一電流值和第二電流值的絕對差值，若所述絕對差值大于預設電流閾值，則判斷該路電容屏單膜短路。

2.根據權利要求1所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法，其特征在于，所述步驟S30包括如下子步驟：

S31、對每個獨立測試電極與公共測試電極之間的電容值進行檢測獲得檢測值；

S32、將所述檢測值與預設電容閾值進行比較，若所述檢測值在預設電容閾值內，則判定該路電容屏單膜合格，否則進入步驟S33；

S33、判斷所述檢測值是否為小于開路閾值，若是則判定該路電容屏單膜開路。

3.根據權利要求1所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法，其特征在于，所述導電長條壓合位置為所述電容屏單膜的尾端。

4.根據權利要求1所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試方法，其特征在于，所述擴展延伸結構設置在電容屏單膜的待裁切區。

5.一種基于權利要求1所述測試方法的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試設備，其特征在于，包括：

多個獨立測試電極，用于連接待測試電容屏單膜接口金手指；

公共測試電極，用于壓合在所述電容屏單膜上，與所述獨立測試電極連接的電容屏單膜形成電容結構；

處理單元，用于檢測所述電容結構的電容值，并根據所述電容值判斷電容屏單膜的好壞。

6.根據權利要求5所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試設備，其特征在于，所述公共測試電極為長條導電片。

7.根據權利要求6所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試設備，其特征在于，所述獨立測試電極為下壓探針，與所述電容屏單膜的金手指壓接。

8.根據權利要求5所述的超大尺寸電容屏單膜的開短路測試設備，其特征在于，所述公共測試電極為驅動電極。