[發(fā)明專(zhuān)利]一種真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811615095.2
• 申請(qǐng)日: 2018-12-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109602320A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 熊明火;劉思;楊坤;陳剛;汪恒
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海石猴智能科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): A47L1/02
• 分類(lèi)號(hào): A47L1/02;B25B11/00
• 代理公司: 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11411
• 代理人: 黃冠華

1.一種真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于：包括電流檢測(cè)裝置，所述電流檢測(cè)裝置與抽真空裝置電連接，電流檢測(cè)裝置用于檢測(cè)抽真空裝置的電流耗值，所述抽真空裝置用于為真空吸盤(pán)抽真空；還包括處理器，所述處理器與所述電流檢測(cè)裝置電連接，處理器用于接收、分析所述電流耗值并得出真空吸盤(pán)是否處于吸附狀態(tài)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述電流檢測(cè)裝置為電流計(jì)或者電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述處理器為單片機(jī)或者微處理器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1、抽真空裝置啟動(dòng)，電流檢測(cè)裝置檢測(cè)真空吸盤(pán)空載時(shí)的電流耗值A(chǔ)，并將該電流耗值A(chǔ)發(fā)送至處理器；

步驟2、電流檢測(cè)裝置檢測(cè)真空吸盤(pán)吸附時(shí)抽真空裝置的電流耗值B，并將該電流耗值B發(fā)送給處理器進(jìn)行分析；

步驟3、處理器計(jì)算得出電流耗值B與電流耗值A(chǔ)的比值C，根據(jù)比值C判斷真空吸盤(pán)的吸附狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的真空吸盤(pán)吸附狀態(tài)檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于：在步驟3中，如0.5≤C≤0.7，則判斷真空吸盤(pán)處于完全吸附狀態(tài)；如0.7＜C＜1，則判斷真空吸盤(pán)處于未完全吸附狀態(tài)；如C＝1，則判斷真空吸盤(pán)處于空載狀態(tài)。