[發(fā)明專利]一種復(fù)合熒光微球試劑卡的檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811608777.0
• 申請日: 2018-12-27
• 公開（公告）號: CN109632741A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 湯亞偉;高少佳
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州和邁精密儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種復(fù)合熒光微球試劑卡的檢測方法，其特征在于，包括步驟依次如下：

S1：第一光源發(fā)射光束通過第一濾光片，透射大部分第一光源波長的光，光束在半透半反二向分色片a的作用下，反射大部分第一光源波長的光，改變光束方向，在凸透鏡的匯聚下照射到待測樣本上，被照射的待測樣本在光束照射下，發(fā)射熒光具有發(fā)散性，經(jīng)過凸透鏡的匯聚照射到半透半反二向分色片a，半透半反二向分色片a透射波長大于420nm的熒光，同時(shí)反射365nm波長的干擾光；

其中，所述第一光源為發(fā)射365nm的平行光的點(diǎn)光源；

S2：第二光源發(fā)射光束通過第二濾光片，透射大部分第二光源波長的光，光束在半透半反二向分色片b的作用下，反射大部分第二光源波長的光，改變光束方向，在凸透鏡的匯聚下照射到待測樣本上；

其中，所述第二光源為發(fā)射470nm的平行光的點(diǎn)光源；

S3：大部分熒光透射后在半透半反二向分色片b的作用下，反射了波長為470nm的干擾光，并透射了波長大于510的熒光；

S4透射后的光束在半透半反二向分色片c的作用下，反射了波長為525nm的熒光，經(jīng)過525nm第三濾光片后，由光電二極管a收集，而透射的的波長大于610nm的熒光，經(jīng)過610nm第四濾光片后，由光電二極管b收集；

其中，第一光源用LED1表示；第二光源用LED2表示；半透半反二向分色片a用M1表示；半透半反二向分色片b用M2表示；半透半反二向分色片c用M3表示；第一濾光片用F1表示；第二濾光片用F2表示；第三濾光片用F3表示；第四濾光片用F4表示；光電二極管a用PD1表示；光電二極管b用PD2表示；凸透鏡用LEN表示；待測樣本用OBJ表示。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)合熒光微球試劑卡的檢測方法，其特征在于，所述半透半反二向分色片a型號參數(shù)為R365-T420，所述半透半反二向分色片b型號參數(shù)為R470-T510，所述半透半反二向分色片c型號參數(shù)為R525-T610。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)合熒光微球試劑卡的檢測方法，其特征在于，所述光電二極管a和所述光電二極管b用于收集兩種不同熒光微球發(fā)射的不同熒光，所述光電二極管a收集到的是XC微球發(fā)射的525nm熒光，所述光電二極管b收集到是銪微球發(fā)射的610nm熒光。