[發(fā)明專利]一種絲印缺陷檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811604481.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109682831A | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅茂森 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州經(jīng)用體育用品有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01B5/00 |
| 代理公司: | 廣州市合本知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44421 | 代理人: | 劉鳳儀 |
| 地址: | 510000 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二值化圖像 絲印缺陷 檢測(cè) 圖像 采集圖像 定位處理 二值圖像 峰值位置 基本模板 積分運(yùn)算 檢測(cè)對(duì)象 降噪處理 偏差位置 實(shí)時(shí)檢測(cè) 圖像分割 圖像旋轉(zhuǎn) 傳送帶 或運(yùn)算 邏輯與 匹配 采集 移動(dòng) | ||
1.一種絲印缺陷檢測(cè)方法,傳送帶將檢測(cè)對(duì)象移動(dòng)到規(guī)定位置,采集圖像,建立基本模板,其特征在于:檢測(cè)前建立左右各旋轉(zhuǎn)0.1度、0.2度的模板共4個(gè),對(duì)采集的圖像進(jìn)行圖像分割、降噪處理,得到二值化圖像,對(duì)所述二值化圖像進(jìn)行圖像的X-Y偏差定位,定位處理采取對(duì)所述二值圖像進(jìn)行X-Y線積分運(yùn)算,再基于初始峰值位置判斷偏差位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲印缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:將二值化圖像與兩個(gè)模板分別進(jìn)行與、或運(yùn)算,運(yùn)算結(jié)果均為零,則為合格產(chǎn)品。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲印缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:所述運(yùn)算結(jié)果有非零區(qū)域,則與其它四對(duì)旋轉(zhuǎn)模板依次進(jìn)行與運(yùn)算,若與其中一對(duì)的與運(yùn)算結(jié)果全為零,判斷為合格。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲印缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:始終存在非零區(qū)域,則判斷為缺陷產(chǎn)品,并進(jìn)一步比較非零區(qū)域大小,取非零區(qū)域面積最小的一個(gè)模板與運(yùn)算結(jié)果,將非零區(qū)域標(biāo)識(shí)為缺陷區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲印缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:所述基本模板包括骨架模板和膨脹模板。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
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