[發明專利]一種量子產率的測試方法

在審

• 申請號: 201811602824.0
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN109507153A
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 薛占強;郭翠;潘奕
• 申請（專利權）人: 深圳市太赫茲科技創新研究院有限公司;華訊方舟科技有限公司
• 主分類號: G01N21/63
• 分類號: G01N21/63;G01N21/25
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 高星

1.一種量子產率的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括：

將待測材料放入積分球內部，并獲取激發光的激發光光譜；

將所述激發光照射在所述待測材料表面，獲取所述待測材料的光致發光光譜以及所述激發光的透射光譜；

根據所述激發光光譜、所述光致發光光譜以及所述透射光譜生成所述待測材料的量子產率。

2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述獲取所述激發光的激發光光譜，包括：

將所述激發光通過積分球的入口照射在所述積分球的內壁；

檢測從所述積分球的出口發出的激發光的激發光光譜。

3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，將所述激發光照射在所述待測材料表面，獲取所述待測材料的光致發光光譜以及所述激發光的透射光譜，包括：

調整所述激發光的入射角度，以使所述激發光照射到所述待測材料表面；

檢測從所述積分球的出口發出的所述待測材料的光致發光光譜以及所述激發光的透射光譜。

4.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述調整所述激發光的入射角度，以使所述激發光照射到所述待測材料表面，包括：

通過可旋轉角度反射鏡裝置接收所述激發光；

通過調節所述可旋轉角度反射鏡裝置的角度對所述激發光進入所述積分球的入射角進行調節，以使得所述激發光照射到所述待測材料表面。

5.如權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述通過調節所述可旋轉角度反射鏡裝置的角度對所述激發光進入所述積分球的入射角進行調節，以使得所述激發光照射到所述待測材料表面，包括：

對所述可旋轉角度反射鏡裝置的角度進行調節；

在所述可旋轉角度反射鏡裝置與所述積分球之間設置聚焦透鏡；

調節所述可旋轉角度反射鏡裝置的角度，以使得所述激發光通過聚焦透鏡后照射到所述待測材料表面。

6.如權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述可旋轉角度反射鏡裝置，包括：

光學反射鏡，用于接收所述激發光，并對所述激發光進行反射；

反射鏡支桿，用于固定所述光學反射鏡，所述反射鏡支桿與所述光學反射鏡連接；以及

電動旋轉臺，用于通過所述反射鏡支桿調整所述光學反射鏡的角度，所述電動旋轉臺與所述反射鏡支桿連接。

7.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述根據所述激發光光譜、所述光致發光光譜以及所述透射光譜生成所述待測材料的量子產率，包括：

按照預設波長范圍從所述激發光光譜中獲取預設激發光光譜波段、從所述光致發光光譜中獲取預設光致發光光譜波段以及從所述透射光譜中獲取預設透射光譜波段；

將所述預設激發光光譜波段與波長橫軸之間的面積設為所述激發光光譜的光子數，將所述預設光致發光光譜波段與所述波長橫軸之間的面積設為所述光致發光光譜的光子數，將所述預設透射光譜波段與所述波長橫軸之間的面積設為所述透射光譜的光子數。

8.如權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述根據所述激發光光譜、所述光致發光光譜以及所述透射光譜生成所述待測材料的量子產率，還包括：

將所述激發光光譜、所述光致發光光譜以及所述透射光譜通過預設量子產率關系式生成量子產率，所述預設量子產率關系式為：

η＝Ne/Na；

其中，η為所述待測材料的量子產率，Ne為所述光致發光光譜的光子數，Na為所述激發光光譜的光子數與所述透射光譜的光子數的差值。