[發明專利]一種粒子群自抗擾控制方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201811591756.2
• 申請日: 2018-12-20
• 公開（公告）號: CN109799703B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 李廷會;陳林奇;高夢園;蔡林峰
• 申請（專利權）人: 廣西師范大學
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

本發明提供一種粒子群自抗擾控制方法、裝置及存儲介質，其方法包括：根據自抗擾算法確定被控對象的多個狀態參數，根據雙空間PSO粒子群優化算法對多個可調參數進行整定處理，得到第一級尋優參數；根據局部勢能尋優算法對第一級尋優參數進行尋優處理，得到第二級尋優參數；將第二級尋優參數輸入ADRC最優自抗擾算法中進行參數更新，通過參數更新后的ADRC最優自抗擾算法控制被控對象；本發明利用自抗擾算法來確定被控對象的多個狀態參數，減少無意義的參數參與，降低控制算法的復雜程度，利用雙空間PSO粒子群優化算法和局部勢能尋優算法優化可調參數，使可調參數精確化，得到最優解，從而通過最優解來控制被控對象，提高控制精準度。

技術領域

本發明主要涉及自抗擾控制領域技術領域，具體涉及一種粒子群自抗擾控制方法、裝置及存儲介質。

背景技術

隨著時代的發展，在控制系統逐漸復雜，控制難度提高，使得經典的PI D自抗擾控制算法開始漸漸顯現出不足之處，而一些新的控制算法其參數多，算法復雜度較高，使得自抗擾控制在參數選擇上需要花費大量時間，且不容易求出較優解。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的不足，提供一種粒子群自抗擾控制方法、裝置及存儲介質。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種粒子群自抗擾控制方法，包括如下步驟：

根據自抗擾算法確定被控對象的多個狀態參數。

根據雙空間PSO粒子群優化算法對所述多個狀態參數進行整定處理，得到第一級尋優參數。

根據局部勢能尋優算法對所述第一級尋優參數進行尋優處理，得到第二級尋優參數。

將所述第二級尋優參數輸入ADRC最優自抗擾算法中進行參數更新，通過參數更新后的ADRC最優自抗擾算法控制所述被控對象。

本發明解決上述技術問題的另一技術方案如下：一種粒子群自抗擾控制裝置，包括：

參數確定模塊，用于根據自抗擾算法確定被控對象的多個狀態參數。

第一級尋優模塊，用于根據雙空間PSO粒子群優化算法對所述多個狀態參數進行整定處理，得到第一級尋優參數。

第二級尋優模塊，用于根據局部勢能尋優算法對所述第一級尋優參數進行尋優處理，得到第二級尋優參數。

控制模塊，用于將所述第二級尋優參數輸入ADRC最優自抗擾算法中進行參數更新，通過參數更新后的ADRC最優自抗擾算法控制所述被控對象。

本發明解決上述技術問題的另一技術方案如下：一種粒子群自抗擾控制裝置，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，當所述處理器執行所述計算機程序時，實現如所述的粒子群自抗擾控制方法。

本發明解決上述技術問題的另一技術方案如下：一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，當所述計算機程序被處理器執行時，實現如所述的粒子群自抗擾控制方法。

本發明的有益效果是：利用自抗擾算法來確定被控對象的多個狀態參數，減少無意義的參數參與，降低控制算法的復雜程度，提高運行速度，利用雙空間PSO粒子群優化算法和局部勢能尋優算法優化處理狀態參數，使狀態參數精確化，得到最優解，從而通過最優解來控制被控對象，提高控制精準度。

附圖說明

圖1為本發明一實施例提供的粒子群自抗擾控制方法的方法流程圖；

圖2為本發明一實施例提供的粒子群自抗擾控制裝置的模塊框圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本發明，并非用于限定本發明的范圍。