[發明專利]一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法及裝置

有效

• 申請號: 201811591035.1
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN109671081B
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 郭慧;姚毅
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06F16/22;G06F16/23
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請實施例提供了一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法及裝置，方法包括：首先獲取圖像傳感器的平場圖像，將平場圖像進行壞點檢測處理，輸出壞點位置數據，利用基于FPGA查找表的掃描法根據壞點位置數據對壞點進行一次掃描處理，根據一次掃描數據創建原查找表，對一次掃描數據進行合并處理，根據合并處理數據對查找表進行更新處理，得到更新后的查找表，數據比較處理得到最終查找表，根據最終查找表統計壞簇數量。本申請實施例提供的技術方案，引入FPGA最擅長的查找表，將經過圖像壞點檢測的位置數據應用于查找表，通過查找表和數據掃描處理相互配合檢驗，得到最終的查找表，根據最終的查找表統計得到壞簇的數量，減少比較運算次數，適宜在FPGA上實現。

技術領域

本公開涉及圖像識別技術領域，尤其涉及一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法及裝置。

背景技術

圖像傳感器是一種將光學圖像轉換成電子信號的器件，被廣泛應用于攝像、圖像采集以及工業測量等領域。通常，一個圖像傳感器包含大量的感光單元，每個感光單元對應于圖像傳感器所輸出圖像中的一個像素點。由于制造工藝、運輸或儲存方式等方面的原因，使得圖像傳感器的某些感光單元損壞而不能正常感光，這些不能正常感光的感光單元在圖像中所對應的像素點被稱為壞點。多個連續的壞點形成壞簇，壞簇的大小和數量對圖像傳感器的品質有很大的影響，因此壞簇統計很重要。常見的壞簇統計方法是基于FPGA查找表的掃描法，以目標點為中心，對比其周圍8個像素值的大小，需要進行多次比較運算才能得到統計結果，不便于FPGA實現。

發明內容

為克服相關技術對于圖像傳感器的壞簇統計方法需要進行多次比較運算才能得到統計結果，不便于FPGA實現的問題，本申請提供一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法及裝置，能夠減少比較運算次數，適宜在FPGA上實現。

根據本申請實施例的第一方面，提供一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法，包括：

獲取圖像傳感器的平場圖像；

將所述平場圖像進行壞點檢測處理，輸出壞點位置數據；

利用基于連通域的掃描法根據所述壞點位置數據對所述壞點進行一次掃描處理，得到一次掃描數據；

根據所述一次掃描數據創建原查找表；

對所述一次掃描數據進行合并處理，得到合并掃描數據；

根據所述合并處理數據對所述查找表進行更新處理，得到更新后的查找表；

判斷所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容是否一致；

如果所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容一致，則以所述更新后的查找表內容為索引，如果所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容不一致，則重復所述對所述一次掃描數據進行合并處理，直至所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容一致，得到最終查找表；

根據所述最終查找表統計壞簇數量。

可選的，所述將所述平場圖像進行壞點檢測處理包括：

壞點標記為1，正常像素點標記為0。

可選的，所述利用基于連通域的掃描法根據所述壞點位置數據對所述壞點進行一次掃描處理包括：

定義像素點位置為D[H，W]，用H表示所述像素點所處的行數，用W表示所述像素點所處的列數；

定義壞簇的打標記號為label_num、所述壞點位置數據為Label1、所述一次掃描數據為Label2、查找表為equal_label；

初始化label_num＝1、Label2(D[H，W])＝0以及equal_label[n]＝n,其中n＝1,2，…N，用N表示壞簇的預估值；