[發明專利]一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法及裝置

有效

• 申請號: 201811591035.1
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN109671081B
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 郭慧;姚毅
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06F16/22;G06F16/23
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種基于FPGA查找表的壞簇統計方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取圖像傳感器的平場圖像；

將所述平場圖像進行壞點檢測處理，輸出壞點位置數據；

利用基于連通域的掃描法根據所述壞點位置數據對所述壞點進行一次掃描處理，得到一次掃描數據；

根據所述一次掃描數據創建原查找表；

對所述一次掃描數據進行合并處理，得到合并掃描數據；

根據所述合并處理數據對所述查找表進行更新處理，得到更新后的查找表；

判斷所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容是否一致；

如果所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容一致，則以所述更新后的查找表內容為索引，如果所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容不一致，則重復所述對所述一次掃描數據進行合并處理，直至所述更新后的查找表索引與所述更新后的查找表內容一致，得到最終查找表；

根據所述最終查找表統計壞簇數量；

所述將所述平場圖像進行壞點檢測處理包括：

壞點標記為1，正常像素點標記為0；

所述利用基于連通域的掃描法根據所述壞點位置數據對所述壞點進行一次掃描處理包括：

定義像素點位置為D[H，W]，用H表示所述像素點所處的行數，用W表示所述像素點所處的列數；

定義壞簇的打標記號為label_num、所述壞點位置數據為Label1、所述一次掃描數據為Label2、查找表為equal_label；

初始化label_num=1、Label2（D[H，W]）=0以及equal_label[n]=n,其中n=1,2，…N，用N表示壞簇的預估值；

根據所述壞點位置數據，判斷Label1（D[H，W]）是否等于1，如果Label1（D[H，W]）等于1，則判斷Label2（D[H，W-1]）和Label2（D[H-1，W+1]）的大小，如果Label2（D[H，W-1]）和Label2（D[H-1，W+1]）都大于1，則取兩者中的小值賦值給Label2（D[H，W]），如果兩者僅有一個大于1，則將大于1的值賦值給Label2（D[H，W]）；

如果Label2（D[H，W-1]）和Label2（D[H-1，W+1]）都等于零，則判斷Label2（D[H-1，W-1]）是否大于1，如果Label2（D[H-1，W-1]）大于1，則將Label2（D[H-1，W-1]）的值賦值給Label2（D[H，W]），如果Label2（D[H-1，W-1]）小于或者等于1，則判斷Label2（D[H-1，W]）是否大于1，如果Label2（D[H-1，W]）大于1，則將Label2（D[H-1，W]）的值賦給Label2（D[H，W]），如果Label2（D[H-1，W]）小于或等于1，則判斷Label1（D[H，W+1]）、 Label1（D[H+1，W-1]）、Label1（D[H+1，W]）以及 Label1（D[H+1，W+1]）的總和是否等于零，如果Label1（D[H，W+1]）、Label1（D[H+1，W-1]）、 Label1（D[H+1，W]）以及 Label1（D[H+1，W+1]）的總和等于零，則將Label1（D[H，W]）的值賦值給Label2（D[H，W]）；

如果Label1（D[H，W+1]）、 Label1（D[H+1，W-1]）、 Label1（D[H+1，W]）以及 Label1（D[H+1，W+1]）的總和不等于零，則將label_num+1賦值給Label2（D[H，W]）；

所述對所述一次掃描數據進行合并處理包括：

判斷Label2（D[H，W]）是否大于1，如果Label2（D[H，W]）大于1，則判斷Label2（D[H+1，W]）和Label2（D[H+1，W+1]）的大小，如果Label2（D[H+1，W]）和Label2（D[H+1，W+1]）均大于1，則取兩者中的小值賦值給equal_label{ Label2（D[H，W]）}，如果Label2（D[H+1，W]）和Label2（D[H+1，W+1]）只有一個值大于1，則將Label2（D[H+1，W]）和Label2（D[H+1，W+1]）兩者中大于1的值賦給equal_label{ Label2（D[H，W]）}；

如果Label2（D[H+1，W]）和Label2（D[H+1，W+1]）均等于零，則判斷Label2（D[H，W+1]）是否大于1，且Label2（D[H，W+1]）是否小于Label2（D[H，W]），如果Label2（D[H，W+1]）大于1，且Label2（D[H，W+1]）小于Label2（D[H，W]），則將Label2（D[H，W+1]）的值賦值給equal_label{ Label2（D[H，W]）}，如果Label2（D[H，W+1]）等于零，或Label2（D[H，W+1]）大于或等于Label2（D[H，W]），則保持equal_label{ Label2（D[H，W]）}的值不變；

所述壞簇統計方法還包括，定義二次掃描數據為Label3，初始化Label3（D[H，W]）=0，根據所述最終查找表對所述合并掃描數據進行二次掃描處理，包括：判斷Label2（D[H，W]）是否大于等于1，如果Label2（D[H，W]）大于等于1，則將equal_label{ Label2（D[H，W]）}的值賦值給Label3（D[H，W]），如果Label2（D[H，W]）小于1，則將Label2（D[H，W]）的值賦值給Label3（D[H，W]），得到所述二次掃描數據。