[發(fā)明專利]銅互連結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811589084.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111370363A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王德進(jìn);周耀輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫華潤(rùn)上華科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/768 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/768;H01L23/538 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 鄧云鵬 |
| 地址: | 214028 江蘇省無(wú)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 互連 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種銅互連結(jié)構(gòu)及其制備方法,所述制備方法包括:形成銅互連槽;在銅互連槽內(nèi)沉積Mn?Co?Cu合金;對(duì)Mn?Co?Cu合金進(jìn)行熱處理,以通過(guò)Mn?Co?Cu合金中的Mn在銅互連槽內(nèi)形成擴(kuò)散阻擋層,通過(guò)Mn?Co?Cu合金中的Cu在銅互連槽內(nèi)形成籽晶層,以獲得銅互連結(jié)構(gòu)。其中,通過(guò)利用Mn?Co?Cu合金形成擴(kuò)散阻擋層,可以有效防止水汽和極性鍵侵蝕,使得電路設(shè)計(jì)無(wú)需大量的空置圖案,大大提高了芯片內(nèi)單位面積的利用率,突破了互連線失效模式對(duì)設(shè)計(jì)的限制。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種銅互連結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù)
在90nm及以下銅工藝制程中,為了得到較好的電路響應(yīng)速度、較短的RC延遲,通孔(Via)金屬層間介質(zhì)層(IMD)一般采用低介電常數(shù)(Low K)電介質(zhì),以避免過(guò)高的寄生電容。但是,低介電常數(shù)電介質(zhì)的引入亦帶來(lái)另一種常見(jiàn)的互連線(Inter-connect)失效模式,即低介電常數(shù)電介質(zhì)吸附的水汽和極性鍵,導(dǎo)致通孔底部的阻擋層氧化,最終造成互連線電性漂移或器件失效。
這種失效機(jī)制對(duì)互連線即通孔的布局(Lay out)設(shè)計(jì)提出了較多要求,例如,在設(shè)計(jì)電路時(shí),在互連線周?chē)仨毩粲休^多的區(qū)域設(shè)置空置圖案(Dummy Pattern),以最小化水汽或極性健對(duì)阻擋層的影響。但是,該方式占用了較多的區(qū)域,從而降低了芯片內(nèi)單位面積的利用率,對(duì)設(shè)計(jì)提出了較多的限制。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)因空置圖案的設(shè)置導(dǎo)致的芯片內(nèi)單位面積利用率低的問(wèn)題,提供一種銅互連結(jié)構(gòu)及其制備方法。
一種銅互連結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:
形成銅互連槽;
在銅互連槽內(nèi)沉積Mn-Co-Cu合金;
對(duì)Mn-Co-Cu合金進(jìn)行熱處理,以通過(guò)Mn-Co-Cu合金中的Mn在銅互連槽內(nèi)形成擴(kuò)散阻擋層,通過(guò)Mn-Co-Cu合金中的Cu在銅互連槽內(nèi)形成籽晶層,以獲得銅互連結(jié)構(gòu)。
上述的銅互連結(jié)構(gòu)的制備方法,先形成銅互連槽,然后在銅互連槽內(nèi)沉積Mn-Co-Cu合金,并對(duì)Mn-Co-Cu合金進(jìn)行熱處理,以通過(guò)Mn-Co-Cu合金中的Mn在銅互連槽內(nèi)形成擴(kuò)散阻擋層,通過(guò)Mn-Co-Cu合金中的Cu在銅互連槽內(nèi)形成籽晶層,以獲得銅互連結(jié)構(gòu)。其中,通過(guò)利用Mn-Co-Cu合金形成的擴(kuò)散阻擋層,可以有效防止水汽和極性鍵侵蝕,使得電路設(shè)計(jì)無(wú)需大量的空置圖案,大大提高了芯片內(nèi)單位面積的利用率,突破了互連線失效模式對(duì)設(shè)計(jì)的限制。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,擴(kuò)散阻擋層形成于銅互連槽的內(nèi)壁。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,采用物理氣相沉積方式沉積Mn-Co-Cu合金。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,采用真空紫外線對(duì)晶面和/或晶背加熱,以對(duì)Mn-Co-Cu合金進(jìn)行熱處理。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,熱處理的溫度取值范圍為150℃~250℃。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,熱處理的時(shí)間為20min~30min。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,Mn-Co-Cu合金中的Mn含量為15%~35%,Co含量為0.5%~3.5%。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,在形成銅互連槽之前,方法還包括:
提供襯底;
在襯底上依次形成刻蝕停止層和介質(zhì)層,介質(zhì)層形成于刻蝕停止層上;擴(kuò)散阻擋層形成于介質(zhì)層和籽晶層之間。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,介質(zhì)層的材料為低介電常數(shù)介質(zhì)。
一種銅互連結(jié)構(gòu),形成于銅互連槽內(nèi),包括:
籽晶層,為Mn-Co-Cu合金材質(zhì);
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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