[發(fā)明專利]一種芯片測試裝置、系統(tǒng)和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811589025.4
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN109490760A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發(fā)明（設計）人: 陳炳銳;方彬浩;肖夕
• 申請（專利權）人: 京信通信系統(tǒng)（中國）有限公司;京信通信系統(tǒng)（廣州）有限公司;京信通信技術（廣州）有限公司;天津京信通信系統(tǒng)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種芯片測試裝置，其特征在于，至少包括測試底板；所述測試底板包括測試控制單元、測試接口單元、電源接入單元和芯片接入單元；

所述測試控制單元至少包括可編程邏輯單元，所述可編程邏輯單元用于提供適用于待測芯片的邏輯電路；

所述芯片接入單元用于提供與所述待測芯片相適應的芯片接口，以使所述待測芯片與所述可編程邏輯單元電性相連；

所述測試接口單元，與所述測試控制單元電連接，用于接收操作設備發(fā)送的測試指令并向所述可編程邏輯單元提供；

所述電源接入單元用于連接電源，為所述測試底板供電。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試控制單元還包括控制輸入單元；所述控制輸入單元與所述可編程邏輯單元電性相連，用于向所述可編程邏輯單元傳輸芯片配置信號，以使所述可編程邏輯單元根據(jù)所述芯片配置信號提供適用于所述待測芯片的邏輯電路。

3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試控制單元還包括燒寫接口，用于將邏輯電路對應的功能固件燒寫至所述可編程邏輯單元。

4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試控制單元還包括狀態(tài)指示燈，用于指示所述測試底板所處的測試狀態(tài)。

5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試控制單元還包括復位按鈕，用于將所述可編程邏輯單元恢復為初始狀態(tài)。

6.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述芯片接入單元包括多個芯片接口，所述可編程邏輯單元從所述多個芯片接口中選擇與所述待測芯片的引腳對應的芯片接口進行連接。

7.如權利要求1至6任一項所述的裝置，其特征在于，還包括接入板和芯片安裝座；

所述接入板包括安裝陣列和安裝插槽，所述安裝陣列用于連接所述芯片安裝座，所述安裝插槽用于與所述芯片接入單元連接；

所述芯片安裝座，用于封裝待測芯片，并與所述安裝陣列連接。

8.如權利要求1至6任一項所述的裝置，其特征在于，所述可編程邏輯單元為CPLD(復雜可編程邏輯器件)。

9.一種芯片測試系統(tǒng)，其特征在于，包括權利要求1至9任一項所述的芯片測試裝置、待測芯片和用于提供測試指令的操作設備。

10.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：

可編程邏輯單元芯片接收芯片配置信號；

所述可編程邏輯單元根據(jù)所述芯片配置信號提供邏輯電路，并從芯片接入單元中選擇對應的芯片接口進行連接；

所述可編程邏輯單元接收操作設備發(fā)送的測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給待測芯片。