[發明專利]一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法

有效

• 申請號: 201811585929.X
• 申請日: 2018-12-24
• 公開（公告）號: CN109856510B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 車傳強;王瓊;白潔;王琰;楊文良;趙宇昂;楊波;侯宇嘉;趙磊;王振中
• 申請（專利權）人: 內蒙古電力（集團）有限責任公司內蒙古電力科學研究院分公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 張文寶

本發明公開了一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，在遵循現有的電氣試驗標準的基礎之上，并不拘泥單一的試驗形式，也不僅僅依賴單臺干抗設備的整體試驗結果，而是依據上一步的試驗結果，指導下一步應該選用的試驗項目，按照干抗整體是否存在匝間絕緣缺陷、缺陷在哪一個包封、缺陷具體位置(冒煙位置)的查找邏輯，逐步逐層次有條理地確定了匝間絕緣缺陷的位置。同時，該方法不單單適用于干抗單一缺陷位置的查找，其試驗流程同樣滿足多處缺陷位置的查找。

技術領域

本發明涉及高電壓與絕緣技術領域，特別是涉及干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法。

背景技術

干式空心電抗器一般由幾個到十幾個包封并聯構成，每一個包封又由多股電磁線并行繞制而成，即一臺干式空心電抗器設備的電氣拓撲為一個成千上萬匝的電抗線圈。當干式空心電抗器的某幾匝或者幾十匝線圈出現或者存在絕緣缺陷時，現場目前開展的常規電氣試驗難以判定其是否存在匝間絕緣缺陷，因此隨著設備絕緣缺陷的發展和擴大，常導致干式空心電抗器設備著火事故的發生。干式空心電抗器發生匝間短路后，其短路環內的電流很大，極端情況下可達到正常運行電流的數倍，因此極易在數秒內引起線圈起火、自焚。由于匝間絕緣缺陷導致的事故原因占干式空心電抗器總事故原因的90％，若不能及時發現匝間絕緣缺陷，干式空心電抗器失火事故對變電站造成的惡劣影響和經濟損失則無法估量。

基于高頻脈沖振蕩法的匝間過電壓試驗裝置，使用電力電子器件IGBT代替了傳統的球隙放電間隙，裝置的安全性和可靠性大幅度提升。因此，將匝間過電壓試驗由實驗室引入到了電力現場，在現場干式空心電抗器匝間絕緣缺陷診斷方面起到了不容小覷的作用，解決了在運干式空心電抗器匝間絕緣缺陷現場診斷的技術難題，大大降低了干式空心電抗器失火等事件的發生。

但是，僅僅借助高頻脈沖振蕩法的匝間過電壓試驗裝置判定被測干式空心電抗器是否存在匝間絕緣缺陷是遠遠不夠的，只有在明晰匝間絕緣缺陷缺陷的具體位置后，借助干式空心電抗器本體拆解的方式，才能從根本上確定導致干式空心電抗器出現匝間絕緣缺陷的根本原因，進而才能從干式空心電抗器設備的設計、制造和運維等方面提出提高設備生產質量和運行穩定的有效方法。

因此需要提供一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法以解決現有技術中存在的問題。

發明內容

本發明公開了一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于，所述查找方法包括以下步驟：

步驟1：進行現場匝間過電壓試驗，確定干式空心電抗器是否存在匝間絕緣缺陷，如果高、低壓試驗波形的相位發生明顯偏移(GB/T 1094.6圖G.1中給出的判斷判據)，表明被測干式空心電抗器存在匝間絕緣缺陷，執行步驟2，如果高、低壓試驗波形的相位未發生偏移，干式空心電抗器無缺陷結束執行所述查找方法；

步驟2：在額定電流下測量干式空心電抗器的介損值，將當前溫度下測量的介損值折合至參考溫度75℃(GB/T 1094.6-2011電力變壓器第6部分：電抗器第7.8.1條：測量值應修正到額定電流和參考溫度下)，與出廠損耗測試值進行對比計算偏差值；

步驟3：包封層直流電阻測試值測試，并與設計理論值進行對比，計算二者的偏差值，如果包封層直流電阻測試值偏差大于±5％執行步驟8，否則執行步驟4；

步驟4：利用包封損耗測試確定問題包封，在額定電流下測量包封損耗值將當前溫度下測量的包封損耗值折合至參考溫度75℃(同步驟2所述)，與出廠損耗測試值進行對比計算偏差值，如果包封介損值偏差大于±5％執行步驟8，否則執行步驟5；

步驟5：利用外施電流加速匝間絕緣劣化；

步驟6：降低外施電壓值為零，測量干式空心電抗器的電感值，與出廠測試值進行對比，如果所測量電感值與出廠測試值偏差大于10％執行步驟7，否則執行步驟5；