[發明專利]一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法

有效

• 申請號: 201811585929.X
• 申請日: 2018-12-24
• 公開（公告）號: CN109856510B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 車傳強;王瓊;白潔;王琰;楊文良;趙宇昂;楊波;侯宇嘉;趙磊;王振中
• 申請（專利權）人: 內蒙古電力（集團）有限責任公司內蒙古電力科學研究院分公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 張文寶

1.一種干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于，所述查找方法包括以下步驟：

步驟1：進行現場匝間過電壓試驗，確定干式空心電抗器是否存在匝間絕緣缺陷，如果高、低壓試驗波形的相位發生明顯偏移，表明被測干式空心電抗器存在匝間絕緣缺陷，執行步驟2，如果高、低壓試驗波形的相位未發生偏移，干式空心電抗器無缺陷結束執行所述查找方法；

步驟2：在額定電流下測量干式空心電抗器的介損值，將當前溫度下測量的介損值折合至參考溫度75℃，與出廠損耗測試值進行對比計算偏差值；

步驟3：包封層直流電阻測試值測試，并與設計理論值進行對比，計算二者的偏差值，如果包封層直流電阻測試值偏差大于±5％執行步驟8，否則執行步驟4；

步驟4：利用包封損耗測試確定問題包封，在額定電流下測量包封損耗值將當前溫度下測量的包封損耗值折合至參考溫度75℃，與出廠損耗測試值進行對比計算偏差值，如果包封介損值偏差大于±5％執行步驟8，否則執行步驟5；

步驟5：利用外施電流加速匝間絕緣劣化；

步驟6：降低外施電壓值為零，測量干式空心電抗器的電感值，與出廠測試值進行對比，如果所測量電感值與出廠測試值偏差大于10％執行步驟7，否則執行步驟5；

步驟7：再次在額定電流下測量干式空心電抗器介損值和包封損耗值，并將干式空心電抗器介損值和包封損耗值折合至參考溫度75℃，與步驟2中的干式空心電抗器介損值和步驟4中的包封損耗值進行對比：如干式空心電抗器的電氣參數發生了變化，則說明干式空心電抗器自身存在缺陷，如果沒有缺陷執行步驟8，否則判定缺陷存在的包封編號，拆除已確定存在缺陷的問題包封并執行步驟5；

步驟8：進行溫升試驗，升高外施電壓值，直至干式空心電抗器的外施電流值無法升高為止，在溫升試驗過程中，依據紅外熱成像溫度分布圖及其灼燒冒煙位置，判定缺陷具體位置；

步驟9：拆解問題包封，確定匝間絕緣缺陷，以便后續分析其缺陷成因。

2.根據權利要求1所述的干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于：所述步驟1利用基于高頻脈沖振蕩法的匝間過電壓試驗裝置進行所述現場匝間過電壓試驗。

3.根據權利要求1所述的干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于：所述步驟5快速升高外施電壓值，在外施電流值大于額定電流后，保持該試驗的外施電流值恒定，所述外施電流為1.1-2.0倍的額定電流值。

4.根據權利要求3所述的干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于：所述步驟5試驗電流值保持時間由被測試干式空心電抗器匝間絕緣缺陷的嚴重程度決定，匝間絕緣缺陷越嚴重，其外施電流值越低，施加時間越短。

5.根據權利要求1所述的干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于：所述步驟7還判斷過流試驗是否加速了其它微小絕緣缺陷的劣化進度，如果發現其它微小絕緣缺陷，說明匝間絕緣缺陷位置不止一處，需拆除已確定存在缺陷的問題包封并執行步驟5。

6.根據權利要求1所述的干式空心電抗器匝間絕緣缺陷位置的查找方法，其特征在于：所述步驟8溫升試驗，試驗過程中依據紅外熱成像溫度分布圖判定缺陷位置，該位置為步驟9包封拆解確定拆解位置，試驗過程中，若干抗的某一包封出現自燃冒煙現象，冒煙位置便為具體位置。