[發明專利]一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201811583676.2
• 申請日: 2018-12-24
• 公開（公告）號: CN109857607A
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發明（設計）人: 劉曉彥;王坤亮;杜剛
• 申請（專利權）人: 北京大學
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京辰權知識產權代理有限公司 11619
• 代理人: 劉廣達

本發明公開一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法及裝置，該方法包括：獲取待檢測固態硬盤對應的位圖；根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測。本發明將位圖分析與神經網絡結合起來，通過預先訓練的神經網絡模型自動檢測待檢測固態硬盤對應的位圖的可靠性,位圖與待檢測固態硬盤包括的存儲塊一一對應，實現對固態硬盤包括的每個存儲塊進行快速的可靠性分析，大大提高了可靠性分析的速度及效率，縮短了固態硬盤的測試周期，縮短了產品周期，節約了成本。

技術領域

本發明屬于集成電路技術領域，具體涉及一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法及裝置。

背景技術

基于NAND Flash(NAND閃存)的SSD(Solid State Disk，固態硬盤)技術被廣泛應用在汽車電子、家庭生活、工業控制、企業應用以及智能家居等領域。在SSD出廠之前需要對SSD進行可靠性檢測，以確保出廠的SSD的可靠性達標。

當前，相關技術中提出了一種檢測基于NAND Flash的SSD可靠性的方法，該方法使用Bitmap(位圖)對NAND Flash進行可靠性分析，討論了外圍電路、陣列組織形式以及工藝對NAND Flash可靠性的影響。

但上述相關技術使用Bitmap進行可靠性分析時沒有對Bitmap進行大規模快速可靠性分析，效率低下，在當前巨大的存儲密度增長下，周期太長，成本太高。

發明內容

為解決以上問題，本發明提供一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法及裝置，將位圖分析與神經網絡結合起來，通過預先訓練的神經網絡模型自動檢測待檢測固態硬盤對應的位圖的可靠性,實現對固態硬盤包括的每個存儲塊進行快速的可靠性分析。本發明通過以下幾個方面來解決以上問題。

第一方面，本發明實施例提供了一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測固態硬盤對應的位圖；

根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測。

結合第一方面，本發明實施例提供了上述第一方面的第一種可能的實現方式，其中，所述根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測，包括：

分別將所述待檢測固態硬盤對應的每個位圖輸入預先訓練的神經網絡模型，得到每個所述位圖對應的存儲塊的可靠性檢測結果；

根據每個所述存儲塊的可靠性檢測結果，確定所述待檢測固態硬盤是否滿足預設可靠條件。

結合第一方面，本發明實施例提供了上述第一方面的第二種可能的實現方式，其中，所述獲取待檢測固態硬盤對應的位圖，包括：

確定待檢測固態硬盤包括的每個存儲塊；

分別對每個所述存儲塊進行掃描，得到每個所述存儲塊對應的位圖。

結合第一方面，本發明實施例提供了上述第一方面的第三種可能的實現方式，其中，所述根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測之前，還包括：

獲取預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果；

通過所述預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型。

結合第一方面的第三種可能的實現方式，本發明實施例提供了上述第一方面的第四種可能的實現方式，其中，所述通過所述預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型，包括：

通過每個已檢測位圖包括的閾值電壓信息或跨導信息及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型。