[發明專利]一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201811583676.2
• 申請日: 2018-12-24
• 公開（公告）號: CN109857607A
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發明（設計）人: 劉曉彥;王坤亮;杜剛
• 申請（專利權）人: 北京大學
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京辰權知識產權代理有限公司 11619
• 代理人: 劉廣達

1.一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測固態硬盤對應的位圖；

根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測，包括：

分別將所述待檢測固態硬盤對應的每個位圖輸入預先訓練的神經網絡模型，得到每個所述位圖對應的存儲塊的可靠性檢測結果；

根據每個所述存儲塊的可靠性檢測結果，確定所述待檢測固態硬盤是否滿足預設可靠條件。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待檢測固態硬盤對應的位圖，包括：

確定待檢測固態硬盤包括的每個存儲塊；

分別對每個所述存儲塊進行掃描，得到每個所述存儲塊對應的位圖。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測之前，還包括：

獲取預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果；

通過所述預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述通過所述預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型，包括：

通過每個已檢測位圖包括的閾值電壓信息或跨導信息及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型。

6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據每個所述存儲塊的可靠性檢測結果，確定所述待檢測固態硬盤是否滿足預設可靠條件，包括：

根據每個所述存儲塊的可靠性檢測結果，計算所述待檢測固態硬盤對應的存儲塊可靠性比率；

若所述存儲塊可靠性比率大于預設閾值，則確定所述待檢測固態硬盤滿足預設可靠條件。

7.一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，用于獲取待檢測固態硬盤對應的位圖；

可靠性檢測模塊，用于根據所述位圖和預先訓練的神經網絡模型，對所述待檢測固態硬盤進行可靠性檢測。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述可靠性檢測模塊包括：

輸入單元，用于分別將所述待檢測固態硬盤對應的每個位圖輸入預先訓練的神經網絡模型，得到每個所述位圖對應的存儲塊的可靠性檢測結果；

確定單元，用于根據每個所述存儲塊的可靠性檢測結果，確定所述待檢測固態硬盤是否滿足預設可靠條件。

9.根據權利要求7或8所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

模型訓練模塊，用于獲取預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果；通過所述預設數量的已檢測位圖及每個所述已檢測位圖對應的可靠性檢測結果訓練神經網絡模型。

10.一種NAND Flash固態硬盤的可靠性檢測設備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-6中任一所述的方法。