[發(fā)明專利]VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811569791.4
• 申請日: 2018-12-21
• 公開（公告）號: CN109633400B
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 梅華斌;俞林
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫職業(yè)技術(shù)學(xué)院
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 無錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32228
• 代理人: 馮智文

本發(fā)明涉及晶體管檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其為VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置，包括電路板和晶體管，所述電路板的頂端固定連接有擋板，所述擋板的頂端一側(cè)固定連接有水平設(shè)置的電熱絲，所述電路板的頂端電性連接有鋼絲，所述鋼絲的另一端固定連接有水平設(shè)置的壓板，所述壓板的頂端固定連接有豎直設(shè)置的彈簧，且彈簧的頂端與電路板的底端固定連接，本發(fā)明中，通過設(shè)置的電熱絲、曲桿和金屬絲實現(xiàn)對高溫狀態(tài)下的晶體管的穩(wěn)定性測試，能夠檢測晶體管能否在散熱不良的惡劣的工作環(huán)境中正常運作，縮短實驗參數(shù)與實際使用的參數(shù)之間的差距，這種設(shè)計構(gòu)思新穎，設(shè)計科學(xué)，具有巨大的經(jīng)濟效益和廣泛的市場前景，值得推廣使用。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及晶體管檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體為VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置。

背景技術(shù)

垂直雙擴散金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管VDMOS兼有雙極晶體管和普通MOS器件的優(yōu)點，無論是開關(guān)應(yīng)用還是線形應(yīng)用，VDMOS都是理想的功率器件，VDMOS主要應(yīng)用于電機調(diào)速、逆變器、不間斷電源、電子開關(guān)、高保真音響、汽車電器和電子鎮(zhèn)流器等，特征為接近無限大的靜態(tài)輸入阻抗特性，非?？斓拈_關(guān)時間，導(dǎo)通電阻正溫度系數(shù)，近似常數(shù)的跨導(dǎo)，高dV/dt，制造時，先在重摻雜N+襯底上生長一層N型外延層，由P型基區(qū)與N+源區(qū)的兩次橫向擴散結(jié)深之差形成溝道，這兩個區(qū)域在離子注入過程中都是通過柵自對準(zhǔn)工藝注入各自的摻雜雜質(zhì)，因此，對VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置的需求日益增長。

目前市場上存在的大部分VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置無法測試高溫狀態(tài)下的晶體管的穩(wěn)定性，無法檢測晶體管能否在散熱不良的惡劣的工作環(huán)境中正常運作，實驗參數(shù)與實際使用的參數(shù)差距較大，而且傳統(tǒng)的VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置缺少對引腳的簡易固定裝置，引腳容易彎折甚至斷裂，容易使晶體管在檢測過程中損壞，因此，針對上述問題提出VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

VDMOS垂直柵場效應(yīng)晶體管性能檢測裝置，包括電路板和晶體管，所述電路板的頂端固定連接有擋板，所述擋板的頂端一側(cè)固定連接有水平設(shè)置的電熱絲，所述電路板的頂端電性連接有鋼絲，所述鋼絲的另一端固定連接有水平設(shè)置的壓板，所述壓板的頂端固定連接有豎直設(shè)置的彈簧，且彈簧的頂端與電路板的底端固定連接，所述晶體管的前端電性連接有水平設(shè)置的引腳，所述電路板的頂端左右兩側(cè)均轉(zhuǎn)動連接有曲桿，所述曲桿的內(nèi)側(cè)固定連接有彈簧片，且彈簧片的底端與電路板的頂端固定連接，左側(cè)所述曲桿的頂端固定連接有水平設(shè)置的固定塊，所述固定塊的右端固定連接有金屬絲，所述金屬絲的另一端固定連接有拉環(huán)，右側(cè)所述曲桿的頂端固定連接有限位環(huán)，且限位環(huán)的內(nèi)側(cè)與金屬絲的外側(cè)滑動連接。

優(yōu)選的，所述擋板的一端面呈弧面狀設(shè)置，且擋板的弧面端與晶體管的外側(cè)底端滑動連接。

優(yōu)選的，所述金屬絲的外側(cè)滑動連接有彈簧夾，且彈簧夾的左端與限位環(huán)的右端相貼合。

優(yōu)選的，所述電熱絲的軸線與曲桿的中心位于同一豎直平面上，且電熱絲位于晶體管的正上方。

優(yōu)選的，所述鋼絲的數(shù)量為3根，所述鋼絲的長度均相等，且鋼絲呈均勻分布在壓板的頂端。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

1、本發(fā)明中，通過設(shè)置的電熱絲、曲桿和金屬絲實現(xiàn)對高溫狀態(tài)下的晶體管的穩(wěn)定性測試，能夠檢測晶體管能否在散熱不良的惡劣的工作環(huán)境中正常運作，縮短實驗參數(shù)與實際使用的參數(shù)之間的差距。

2、本發(fā)明中，通過設(shè)置的鋼絲、壓板和彈簧實現(xiàn)了對引腳的簡易固定，減少引腳的彎折，防止斷裂，避免晶體管在檢測過程中出現(xiàn)機械損壞，這種設(shè)計構(gòu)思新穎，設(shè)計科學(xué)，具有巨大的經(jīng)濟效益和廣泛的市場前景，值得推廣使用。