[發明專利]一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統及方法在審
| 申請號: | 201811564868.9 | 申請日: | 2018-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN109753393A | 公開(公告)日: | 2019-05-14 |
| 發明(設計)人: | 周皓;趙康;李子昊;鄧靜;姚永昶;朱向東 | 申請(專利權)人: | 北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 馬全亮 |
| 地址: | 100076 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 篩選 總線接口電路 失效電路 快速篩選系統 主控處理器 生產過程 協議測試 自測試 測試 顯示器 剔除 有效性測試 自測試功能 待測電路 二次供電 接口電路 結果提示 邏輯解碼 生產效率 提示模塊 存儲器 輸出 常規的 反熔絲 產能 熔燒 封裝 供電 | ||
一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統及方法,用于對Mini?ACE系列1553總線接口電路在完成MCM封裝后做功能異常篩選,剔除協議失效和存儲器失效電路。系統包括:一次供電、二次供電、主控處理器、I/O輸入輸出、邏輯解碼、VGA控制器、結果提示和顯示器。主控處理器按照對應的篩選模式通過待測電路的HOST接口順序對其輸入篩選激勵:啟動RAM測試?停止RAM測試?啟動協議測試?停止協議測試,根據篩選情況將結果通過提示模塊和顯示器輸出給篩選人員。本發明用于具有自測試功能的1553系列接口電路的生產過程,可在早期剔除失效電路,避免了在生產過程中對失效電路進行常規的反熔絲結構熔燒、三溫測試和有效性測試等工作,大大減少了工時浪費,提高了生產效率及產能。
技術領域
本發明涉及一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選方法及測試系統,適用于具有自測試功能的1553總線接口電路的篩選。
背景技術
在MINI-ACE系列1553總線接口電路的生產過程中,從外協生產圓片、采購管殼、蓋板、電容到劃片、完成MCM封裝,然后就直接進入了常規的反熔絲結構熔燒、三溫測試和有效性測試等生產環節,由于后邊的三個生產環節工作復雜、測試難度大、耗費工時長,所以一旦在MCM封裝完成后,電路功能有異常,那么后續的巨大工作量將毫無意義,浪費人力財力。目前,市場上還沒有類似的測試系統設計方案,所以發明了本篩選方法及測試系統,用于具有自測試功能的1553系列接口電路的生產過程,在完成MCM封裝后,先使用該方法和測試系統對電路進行篩選,可在早期剔除失效電路,避免了在生產過程中對失效電路進行復雜的熔燒、測試等工作,大大減少了工時浪費,提高了生產效率及產能。
發明內容
本發明的技術解決問題是:針對具有自測試功能的1553系列接口電路,提供了一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統及方法,實現了對該系列電路的快速篩選,完善了生產流程。
本發明的技術解決方案是:
一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統,包括:一次供電模塊、二次供電模塊、主控處理器、I/O輸入模塊、I/O輸出模塊、邏輯解碼模塊、VGA控制器以及結果顯示模塊;
一次供電模塊接收外部輸入的DC+5V,為其他模塊供電;
二次供電模塊的輸入為一次供電模塊的輸出,經隔離輸出至被測電路,為被測電路供電,二次供電模塊的輸出可控,實現對被測電路的上/下電控制;
I/O輸入模塊是主控處理器的用戶接口,將用戶的動作轉化為機器輸入,送給主控處理器;
I/O輸出模塊驅動結果顯示模塊對主控處理器輸出的結果進行顯示;
VGA控制器作為主控處理器和顯示器之間的接口電路,完成TFT顯示到VGA顯示的轉換,將主控處理器輸出的結果在顯示器上進行顯示;
邏輯解碼接收主控處理器發送的上/下電指令,將指令解析后,提供給二次供電模塊,進而實現對被測電路的上/下電控制;
邏輯解碼接收主控處理器發送的寄存器訪問指令,將指令解析后,提供給被測電路,進而實現對被測電路內部寄存器的訪問;
邏輯解碼接收主控處理器發送的結果顯示指令,將指令解析后,提供給VGA控制器,進而將測試結果顯示在通用顯示器上;
被測電路為MINI-ACE系列1553總線接口電路。
結果顯示模塊對主控處理器輸出的結果進行顯示采用類LED方式,顯示器采用標準VGA接口。
所述被測電路中包括啟動/復位寄存器,地址0x03,另一個是BIT測試狀態寄存器,地址0x1C。
所述啟動/復位寄存器的位定義為:
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