[發明專利]一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載及方法

有效

• 申請號: 201811559386.4
• 申請日: 2018-12-19
• 公開（公告）號: CN109613331B
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 鄧凱;羅敏;趙偉;孟金嶺;易斌;黃建忠
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司;廣東電網有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R21/06
• 分類號: G01R21/06;G01R21/00;G01R22/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張春水;唐京橋

1.一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，包括：第一電阻陣列、第二電阻陣列、電流互感器、電壓互感器、第一A/D轉換器、第二A/D轉換器、DSP處理單元、繼電器驅動芯片和可控硅驅動電路；

所述第一電阻陣列的電阻均串聯有繼電器且被所述繼電器控制投切；所述第二電阻陣列的電阻均串聯有雙向可控硅且被所述雙向可控硅控制投切；所述第一電阻陣列的電阻阻值比所述第二電阻陣列的電阻阻值小；

所述第一電阻陣列與所述第二電阻陣列并聯后連接到待檢測的交流充電樁，組成負載電路；

所述DSP處理單元通過所述第一A/D轉換器和所述電流互感器連接所述負載電路，用于檢測所述負載電路的電流；

所述DSP處理單元通過所述第二A/D轉換器和所述電壓互感器連接所述負載電路，用于檢測所述負載電路的電壓；

所述DSP處理單元通過所述繼電器驅動芯片連接所述繼電器，用于控制所述第一電阻陣列投入所述負載電路的電阻；

所述DSP處理單元通過所述可控硅驅動電路連接所述雙向可控硅，用于控制所述第二電阻陣列投入所述負載電路的電阻。

2.根據權利要求1所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，所述第一A/D轉換器和所述電流互感器之間還連接有IV反饋電阻和第一運算放大器。

3.根據權利要求1所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，所述第二A/D轉換器和所述電壓互感器之間還連接有第二運算放大器。

4.根據權利要求1所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，還包括人機交互單元，所述人機交互單元連接所述DSP處理單元，用于輸入控制信號至所述DSP處理單元。

5.根據權利要求1所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，所述第一電阻陣列和所述第二電阻陣列的電阻阻值依次呈預設定值的指數倍增長。

6.根據權利要求5所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載，其特征在于，所述第一電阻陣列中阻值最大的電阻的阻值與所述第二電阻陣列中阻值最小的電阻的阻值相同。

7.一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測方法，基于如權利要求1至6任意一項所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測負載進行檢測，其特征在于，包括：

S1、獲取預設的設定輸出功率值Pset；

S2、根據設定輸出功率值Pset和通過電壓傳感器檢測到的電壓值U值計算并輸出第一電阻陣列和第二電阻陣列的相應的IO值；

S3、根據通過電流傳感器檢測到的電流值I值和電壓傳感器檢測到的電壓值U值計算當前有功功率Pm；

S4、計算設定輸出功率值Pset與當前有功功率Pm的差值，通過IO口控制第一電阻陣列和第二電阻陣列的開關，增加或減少投入的電阻；

其中，每隔預設時間重復執行步驟S3和步驟S4。

8.根據權利要求7所述的一種基于雙負載陣列的交流電充電樁檢測方法，其特征在于，所述步驟S2具體包括：

根據當前的實際電壓計算實際的設定電流為：Iset＝Pset/U；

計算第一電阻陣列的IO值為：MSB＝floor((Iset-0.5×I1b)/I1b)；

計算第二電阻陣列的IO值為：LSB＝round(Iyu/I2b)，Iyu＝Iset-MSB×I1b；

其中，MSB為DSP處理單元與第一電阻陣列對應的IO口的輸出值，floor()為向下取整，I1b為第一電阻陣列最小可提供的電流，LSB為DSP處理單元與第二電阻陣列對應的IO口的輸出值，round()為四舍五入取整，I2b為第二電阻陣列最小可提供的電流，Iyu為余數部分電流值。