[發(fā)明專利]腔室進氣結(jié)構(gòu)以及反應(yīng)腔室在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811550798.1 | 申請日: | 2018-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN109637952A | 公開(公告)日: | 2019-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐剛;張軍;鄭波;馬振國 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京金智普華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401 | 代理人: | 巴曉艷 |
| 地址: | 100176 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng)氣體 進氣結(jié)構(gòu) 混合腔 腔室 反應(yīng)腔室 進入腔 反應(yīng)氣體通道 混合氣體通道 連接件裝置 噴氣盤 室內(nèi) 擴散均勻性 混合氣體 氣體通過 直接反應(yīng) 噴氣板 勻流板 種腔室 硅片 上蓋 | ||
本發(fā)明實施例公開了一種腔室進氣結(jié)構(gòu)以及反應(yīng)腔室,其中的腔室進氣結(jié)構(gòu)包括:設(shè)置在腔室上蓋上的連接件裝置和設(shè)置在腔室內(nèi)的噴氣盤;連接件裝置設(shè)置有第一混合腔,噴氣盤設(shè)置有第二混合腔;多種不反應(yīng)氣體在第一混合腔中進行混合,混合氣體通過第一混合氣體通道、第二混合氣體通道進入腔室內(nèi);反應(yīng)氣體通過第一反應(yīng)氣體通道、第二反應(yīng)氣體通道并經(jīng)過第二混合腔進入腔室內(nèi)。本發(fā)明的腔室進氣結(jié)構(gòu)以及反應(yīng)腔室,能夠避免發(fā)生反應(yīng)的氣體與其他反應(yīng)氣體在進入腔室前進行混合;將不直接反應(yīng)的兩種其他反應(yīng)氣體提前混合均勻,發(fā)生反應(yīng)的氣體通過勻流板和噴氣板進行兩次勻流,達到提高反應(yīng)氣體的在硅片上方混合和擴散均勻性的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種腔室進氣結(jié)構(gòu)以及反應(yīng)腔室。
背景技術(shù)
目前,集成電路制造使用硅基材料,由于硅(或者多晶硅)在空氣中放置表面會自然氧化一層致密的SiO2層,有些工藝如:Silicide,金屬NiPt薄膜要與硅襯底直接接觸,如果襯底表面有一層SiO2會增加電阻率,從而影響器件性能,制造后續(xù)工藝前需要去除這層SiO2。而在去除這層SiO2層的同時必須保護其它薄膜/結(jié)構(gòu)不能被去除或者損傷。目前,集成電路業(yè)界常用的干法去除SiO2。干法去除SiO2,通常需要無水甲醇、HF氣體、NH3等氣體經(jīng)過管路通至腔室內(nèi),相關(guān)氣體在腔室內(nèi)混合反應(yīng),并在晶片表面進行刻蝕。而影響刻蝕均勻性很大程度上與反應(yīng)氣體分布相關(guān),氣體分布均勻性影響因素包括:氣體混合的均勻性、擴散至腔室均勻性以及副產(chǎn)物抽離腔室導(dǎo)致的氣體流場分布均勻性。現(xiàn)有的反應(yīng)腔室具有反應(yīng)氣體過早混合并發(fā)生反應(yīng),反應(yīng)所生成的固態(tài)生成物NH3HF容易堵塞閥體和管路,對于設(shè)備維護周期和維護成本都不利;以及氣體分布容易偏置,氣體擴散的不夠均勻,結(jié)構(gòu)復(fù)雜等缺點。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實施例提供一種腔室進氣結(jié)構(gòu)以及反應(yīng)腔室。
根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面,一種腔室進氣結(jié)構(gòu),包括:設(shè)置在腔室上蓋上的連接件裝置和設(shè)置在腔室內(nèi)的噴氣盤;所述連接件裝置設(shè)置有第一混合腔、與所述第一混合腔相連通的第一混合氣體通道、第一反應(yīng)氣體通道;所述噴氣盤設(shè)置有第二混合腔、與所述第二混合腔相連通的第二反應(yīng)氣體通道、第二混合氣體通道;所述第一混合氣體通道與所述第一反應(yīng)氣體通道相互隔離,所述第二混合氣體通道和所述第二反應(yīng)氣體通道相互隔離;多種不反應(yīng)氣體在所述第一混合腔中進行混合,混合氣體通過所述第一混合氣體通道、所述第二混合氣體通道進入腔室內(nèi);反應(yīng)氣體通過所述第一反應(yīng)氣體通道、所述第二反應(yīng)氣體通道并經(jīng)過所述第二混合腔進入腔室內(nèi),與所述混合氣體進行反應(yīng);其中,所述第一混合氣體通道及所述第一反應(yīng)氣體通道關(guān)于所述噴氣盤的軸線中心對稱設(shè)置。
可選地,包括:勻流板;所述勻流板設(shè)置在腔室內(nèi)并且位于所述噴氣盤的上方;所述勻流板設(shè)置有相互隔離的第三混合氣體通道和第三反應(yīng)氣體通道;其中,混合氣體經(jīng)過所述第一混合氣體通道、所述第三混合氣體通道和第二混合氣體通道進入腔室內(nèi);反應(yīng)氣體經(jīng)過所述第一反應(yīng)氣體通道、所述第三反應(yīng)氣體通道、所述第二混合腔和所述第二反應(yīng)氣體通道進入腔室內(nèi)。
可選地,所述噴氣盤包括:上板和下板;所述上板和所述下板固定連接;所述下板設(shè)置有多排同心的環(huán)狀的凸臺,在所述凸臺上設(shè)置有第一通孔,在位于所述凸臺之間的環(huán)狀的凹槽內(nèi)設(shè)置有第二通孔,所述下板設(shè)置有用于連通所述凹槽的多條呈中心放射狀的氣道;所述上板、所述凹槽和所述氣道圍成所述第二混合腔;在所述上板設(shè)置有與所述第二混合腔相連通的第三通孔以及與所述第一通孔對應(yīng)設(shè)置的第四通孔;其中,所述第二混合氣體通道包括:所述第四通孔、所述第一通孔;所述第二反應(yīng)氣體通道包括:所述第三通孔、所述第二通孔。
可選地,多個所述第一通孔在所述凸臺上均勻分布;多個所述第二通孔在所述凹槽內(nèi)均勻分布。
可選地,在所述勻流板設(shè)置有與所述第三通孔對應(yīng)的第五通孔、與所述第四通孔對應(yīng)的第六通孔;其中,所述第三混合氣體通道包括:所述第六通孔;所述第三反應(yīng)氣體通道包括:所述第五通孔。
可選地,多個所述第六通孔為均勻分布。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





