[發(fā)明專利]一種帶參考氣室的光電探測器的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811550051.6 | 申請日: | 2018-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN109781659B | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宋子毅;蘆稷臣 | 申請(專利權)人: | 武漢市翎風光電科技有限公司;宋子毅 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39;H01L31/0203 |
| 代理公司: | 武漢維創(chuàng)品智專利代理事務所(特殊普通合伙) 42239 | 代理人: | 余麗霞;葉麗麗 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市東湖新技術*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 參考 光電 探測器 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及參考氣室、帶參考氣室的光電探測器及其制備方法和設備,帶參考氣室的光電探測器包括光電探測器本體,光電探測器本體內(nèi)設有參考氣室,參考氣室內(nèi)填充有被測氣體,且參考氣室通過焊料的加熱融化焊接方式密封;焊料包括金屬焊料、合金焊料、玻璃焊料和陶瓷焊料的至少一種;加熱融化焊接方式包括脈沖加熱方式、恒溫加熱方式、氣體加熱方式和激光加熱方式中的至少一種。本發(fā)明能對參考氣室內(nèi)的被測氣體進行檢測,對系統(tǒng)中激光器波長進行實時較準;光電探測器自帶參考氣室,提高了整體集成度,降低了成本,采用焊料加熱融化焊接方式對參考氣室進行密封,氣密性大大提高,使用壽命大大延長,適用于不同氣體的激光濃度檢測儀。
技術領域
本發(fā)明涉及氣體檢測領域,尤其涉及一種帶參考氣室的光電探測器的制備方法。
背景技術
基于TDLAS(可調(diào)諧半導體激光吸收光譜)技術的氣體含量實時在線式檢測系統(tǒng)是通過氣體對特定波長的激光吸收,測量對應氣體的含量。它是先進的高靈敏度、快速響應的新一代氣體檢測技術。該技術具有測量精度高,可達ppm(百萬分之一)量級;準確度高,可檢測混合氣體中的特定成分氣體;響應速度快,可達毫秒響應量級;使用光學方式檢測,可抗干擾和防爆特性,可用于易燃易爆氣體檢測。
若要實現(xiàn)高精度測量,必須保證激光系統(tǒng)中激光器工作的中心波長正好對準被測氣體的吸收波長,以甲烷氣體為例,某一吸收波長為1653.7nm,因此激光甲烷傳感器中的激光器波長需要保持在1653.7±0.01nm。然而激光器的驅動電流、環(huán)境溫度等因素都會引起激光器波長的漂移,環(huán)境溫度越高,激光器波長越長,反之越短。因此參考氣室孕育而生,參考氣室是在一個密封腔體內(nèi),灌注指定濃度的被測氣體。帶參考氣室的方案就是其中一種基于可調(diào)諧半導體激光吸收光譜技術的高精度、高穩(wěn)定性、自帶較準功能的氣體檢測系統(tǒng)。在系統(tǒng)中往往將激光的光束一分為二,一束光通過測量氣室到探測器,另外一束光通過參考氣室到光電探測器,通過參考氣室來主動校準激光器在環(huán)境溫度等因素影響下的波長變化。
目前激光氣體檢測系統(tǒng)中的光電探測器和參考氣室主要存在以下幾種問題:
1、參考氣室與光電探測器多為分離結構,從外形結構上看,參考氣室所占尺寸幾乎為整體儀表的1/6,長度尺寸為100mm左右,大的體積限制了該高精度檢測方式在便攜儀等領域的應用,成本昂貴,密封性差,壽命短;
2、分離結構的常規(guī)光電探測器雖多為氣密性封裝,但都是惰性氣體封裝或者真空封裝方式,因此其內(nèi)部本身就有一個相對密封性較好的很小的密封腔;該內(nèi)腔目前的功能僅僅為防止外部水汽進入到內(nèi)部,避免水汽對激光器或者探測器芯片造成損害,因此密封腔沒有充分利用起來;
3、目前無論一體化結構還是分體結構,當前所有的參考氣室的封裝工藝,多為膠封方法或電阻焊接密封方法,膠封的參考氣室由于氣密性不好,每年漏氣率達到30%左右,往往使用壽命不到3年,漏氣率大(當前膠封產(chǎn)品工藝只能達到1天漏氣率為1/1000),因此為保證3年內(nèi),腔體內(nèi)至少還保留約2.0cm3的(這個數(shù)字跟光程有關)的參考氣體,就無法縮小體積,縮小體積方案的前提必須要密封腔的密封性至少達到1.0×10-10Pa·cm3/S;而當前密封性較好的電阻焊接密封的密封腔內(nèi)只能充入惰性氣體,而無法充入易燃易爆氣體,參考氣室充入的檢測氣體類型受限。
4、成本上看,市面上參考氣室的價格大約為一個光電探測器價格的3~5倍,成本高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術問題是針對上述現(xiàn)有技術的不足,提供一種帶參考氣室的光電探測器的制備方法。
本發(fā)明解決上述問題的技術方案如下:
一種帶參考氣室的光電探測器的制備方法,應用于帶參考氣室的光電探測器,所述帶參考氣室的光電探測器包括光電探測器本體,所述光電探測器本體內(nèi)設有參考氣室,所述參考氣室內(nèi)填充有被測氣體,方法包括以下步驟:
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