[發明專利]內存自動化測試與分級方法

在審

• 申請號: 201811549868.1
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN109710472A
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發明（設計）人: 張迎華;劉曉玲;田利新;曹瑞
• 申請（專利權）人: 曙光信息產業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

本發明提供一種內存自動化測試與分級方法。所述方法包括：利用內存測試儀器中的Shmoo工具測量待測試內存的內存參數邊界值；根據所述內存參數對所述待測試內存性能的影響制作多個測試模板，其中每一個測試模板對應一個內存性能等級；將所述待測試內存依次經過所述多個測試模板的測試，以實現所述待測試內存的自動化測試和分級。本發明能夠提高內存測試效率以及故障內存定位的準確性，而且能夠實現內存等級分類的自動化以對內存質量進行更準確的評判。

技術領域

本發明涉及內存測試技術領域，尤其涉及一種內存自動化測試與分級方法。

背景技術

內存是計算機中重要的部件之一，它是與CPU進行溝通的橋梁。隨著信息技術的飛速發展，社交網絡、信息檢索和電子商務等在線數據密集型應用漸漸成為了研究的熱點，這些應用對數據的訪問性能(帶寬、延遲等)提出了更高的要求。伴隨著信息技術多元化發展和計算機技術的普遍應用，各個領域的需求也向著多元化發展，如何準確定位故障內存以及對內存進行分級以滿足不同行業的需求，成為目前需要解決的問題。

目前，內存檢測技術主要包括基于自動化測試設備的測試方法和在服務器中進行壓力測試的測試方法。由于內存的工作原理較為復雜，用自動化測試設備測試一個內存通常需要根據具體的故障模型按一定順序對每一個技術參數反復測試多次得出測試模板，然后根據測試模板再對內存進行測試，篩選出故障內存。由此可見，這種內存測試方法存在耗費時間長，效率低，故障定位不準確的缺陷。在服務器中進行壓力測試時，由于存在部分存儲空間會被基本輸入輸出系統BIOS、操作系統OS以及掛載設備的驅動預留空間和測試程序本身所占據而導致無法被測試到，造成潛在的質量風險，而且測試耗費時間長，代碼維護需要投入更多的人力，測試效率低。另外，現有的內存測試方法也缺乏對內存進行質量分級的有效手段。

發明內容

本發明提供的內存自動化測試與分級方法，能夠提高內存測試效率以及故障內存定位的準確性，而且能夠實現內存等級分類的自動化以對內存質量進行更準確的評判。

本發明提供一種內存自動化測試與分級方法，包括：

利用內存測試儀器中的Shmoo工具測量待測試內存的內存參數邊界值；

根據所述內存參數對所述待測試內存性能的影響制作多個測試模板，其中每一個測試模板對應一個內存性能等級；

將所述待測試內存依次經過所述多個測試模板的測試，以實現所述待測試內存的自動化測試和分級。

可選地，所述內存參數包括列地址選通脈沖的延遲時間CL、行地址傳輸到列地址的延遲時間tRCD、行地址選通脈沖的預充電時間tRP、內存刷新命令的時間間隔RefreshTime、靜態等待時間Delay、寫恢復延時tWR、行刷新周期時間tRFC七個時序參數。

可選地，所述多個測試模板包括第一測試模板、第二測試模塊、第三測試模板和第四測試模板；

其中，所述第一測試模板為所有內存參數均滿足JEDEC標準；

所述第二測試模板為Refresh Time、Delay和tWR設定為最嚴格，其余內存參數均滿足JEDEC標準；

所述第三測試模板為Refresh Time、Delay、tWR、CL、tRCD和tRP設定為最嚴格，其余內存參數均滿足JEDEC標準；

所述第四組測試模板為所有內存參數設定為最嚴格。

可選地，所述將所述待測試內存依次經過所述多個測試模板的測試包括：

利用所述第一測試模板對所述待測試內存進行測試，如果所述待測試內存未滿足所述第一測試模板，則判定所述待測試內存為故障內存，否則利用所述第二測試模板對所述待測試內存進行繼續測試；