[發明專利]內存自動化測試與分級方法在審
| 申請號： | 201811549868.1 | 申請日： | 2018-12-18 |
| 公開（公告）號： | CN109710472A | 公開（公告）日： | 2019-05-03 |
| 發明（設計）人： | 張迎華;劉曉玲;田利新;曹瑞 | 申請（專利權）人： | 曙光信息產業股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667 | 代理人： | 趙永剛 |
| 地址： | 300384 天津市西青區華*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 內存 測試內存 自動化測試 測試模板 分級 內存參數 內存測試 等級分類 自動化 測量 評判 測試 制作 | ||
1.一種內存自動化測試與分級方法，其特征在于，包括：
利用內存測試儀器中的Shmoo工具測量待測試內存的內存參數邊界值；
根據所述內存參數對所述待測試內存性能的影響制作多個測試模板，其中每一個測試模板對應一個內存性能等級；
將所述待測試內存依次經過所述多個測試模板的測試，以實現所述待測試內存的自動化測試和分級。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述內存參數包括列地址選通脈沖的延遲時間CL、行地址傳輸到列地址的延遲時間tRCD、行地址選通脈沖的預充電時間tRP、內存刷新命令的時間間隔Refresh Time、靜態等待時間Delay、寫恢復延時tWR、行刷新周期時間tRFC七個時序參數。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個測試模板包括第一測試模板、第二測試模塊、第三測試模板和第四測試模板；
其中，所述第一測試模板為所有內存參數均滿足JEDEC標準；
所述第二測試模板為Refresh Time、Delay和tWR設定為最嚴格，其余內存參數均滿足JEDEC標準；
所述第三測試模板為Refresh Time、Delay、tWR、CL、tRCD和tRP設定為最嚴格，其余內存參數均滿足JEDEC標準；
所述第四組測試模板為所有內存參數設定為最嚴格。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述待測試內存依次經過所述多個測試模板的測試包括：
利用所述第一測試模板對所述待測試內存進行測試，如果所述待測試內存未滿足所述第一測試模板，則判定所述待測試內存為故障內存，否則利用所述第二測試模板對所述待測試內存進行繼續測試；
如果所述待測試內存未滿足所述第二測試模板，則判定所述待測試內存為非故障內存內健壯性一般，否則利用所述第三測試模板對所述待測試內存進行繼續測試；
如果所述待測試內存未滿足所述第三測試模板，則判定所述待測試內存為非故障內存且內存健壯性中等，否則利用所述第四測試模板對所述待測試內存進行繼續測試；
如果所述待測試內存未滿足所述第四測試模板，則判定所述待測試內存為非故障內存且內存健壯性良好，否則判定所述待測內存為非故障內存且內存健壯性優秀。
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