[發(fā)明專利]基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測(cè)試系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811535386.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109387775A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐偉;周國(guó)光;金光;章家保;范國(guó)偉;周美麗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春眾邦菁華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硬件子系統(tǒng) 微納衛(wèi)星 主控制器 數(shù)據(jù)采集模塊 通用測(cè)試系統(tǒng) 信號(hào)調(diào)理模塊 測(cè)試系統(tǒng) 上位機(jī) 研發(fā) 功能模塊板卡 自動(dòng)化測(cè)試 背板總線 被測(cè)對(duì)象 串口總線 通用性強(qiáng) 衛(wèi)星測(cè)試 系統(tǒng)軟件 箱體背板 總線 低成本 調(diào)配 架構(gòu) 測(cè)試 通信 | ||
本發(fā)明涉及一種基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測(cè)試系統(tǒng),屬于衛(wèi)星測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,該測(cè)試系統(tǒng)包括PXI硬件子系統(tǒng)和安裝有LabVIEW軟件的上位機(jī),PXI硬件子系統(tǒng)通過(guò)串口總線和CAN總線分別與上位機(jī)和被測(cè)對(duì)象通信,PXI硬件子系統(tǒng)包括PXI機(jī)箱、主控制器、信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊和CAN通訊模塊,主控制器、信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊和CAN通訊模塊均集成在PXI機(jī)箱內(nèi)并通過(guò)PXI箱體背板總線與PXI機(jī)箱連接,主控制器通過(guò)PXI/PXIe混合背板總線控制與調(diào)配各個(gè)功能模塊板卡。本發(fā)明具有通用性強(qiáng)、系統(tǒng)軟件化程度高、測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)靈活性高,可滿足微納衛(wèi)星研發(fā)階段各個(gè)模塊不同需求的測(cè)試和快速、低成本的研發(fā)特性,并具備自動(dòng)化測(cè)試能力。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及衛(wèi)星測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
微納衛(wèi)星是衛(wèi)星發(fā)展的重要方向之一,隨著微機(jī)電系統(tǒng)(Micro-Electro-Mechanical System,MEMS)、嵌入式計(jì)算機(jī)、新材料、新發(fā)射技術(shù)的快速發(fā)展,微納衛(wèi)星在新技術(shù)驗(yàn)證、對(duì)地觀測(cè)等領(lǐng)域具有廣泛的發(fā)展前景。對(duì)微納衛(wèi)星的分類主要采用英國(guó)薩瑞衛(wèi)星技術(shù)公司(SSTL)提出的方法,包括10~100kg的微小衛(wèi)星和1~10kg的納衛(wèi)星。同時(shí),微納衛(wèi)星具有成本低廉、研發(fā)周期短、高度一體化設(shè)計(jì)等特點(diǎn),相比較于傳統(tǒng)的衛(wèi)星,還具備靈活發(fā)射、可星座組網(wǎng)協(xié)同運(yùn)行、結(jié)構(gòu)可重構(gòu)、風(fēng)險(xiǎn)小等優(yōu)勢(shì)。微納衛(wèi)星上的電子學(xué)系統(tǒng)負(fù)責(zé)星上的星務(wù)管理與接口控制等,掌握著整星的信息流,分別控制微納衛(wèi)星上的電源、姿控、熱控、載荷等等分系統(tǒng),是微納衛(wèi)星的重要組成部分。
為了確保衛(wèi)星電子學(xué)系統(tǒng)的穩(wěn)定可靠,在衛(wèi)星發(fā)射之前需要在地面進(jìn)行大量的嚴(yán)格的測(cè)試。地面測(cè)試包括分系統(tǒng)測(cè)試和整星測(cè)試,而其中分系統(tǒng)測(cè)試能暴露相當(dāng)多的問(wèn)題,是測(cè)試過(guò)程中相當(dāng)關(guān)鍵的一個(gè)流程。衛(wèi)星的測(cè)試伴隨著研發(fā)周期的全過(guò)程,可以說(shuō)對(duì)降低微納衛(wèi)星成本和周期起到了決定性作用。為了極大限度的降低成本和研發(fā)周期,微納衛(wèi)星上大量采用了商用現(xiàn)成品(Commercial OffThe Shelf,COTS)器件,并采用高度一體化的設(shè)計(jì),這就要求對(duì)微納衛(wèi)星的測(cè)試方法與傳統(tǒng)衛(wèi)星有所不同,更強(qiáng)調(diào)快速性、靈活性與通用性,而現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備無(wú)法滿足微納衛(wèi)星研制周期短、成本低、星群協(xié)同運(yùn)行、靈活重構(gòu)特性的測(cè)試需求。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備無(wú)法滿足微納衛(wèi)星研制周期短、成本低、星群協(xié)同運(yùn)行、靈活重構(gòu)特性的測(cè)試需求的問(wèn)題,提供一種基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)具有通用性強(qiáng)、系統(tǒng)軟件化程度高、測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)靈活性高,可滿足微納衛(wèi)星研發(fā)階段各個(gè)模塊不同需求的測(cè)試和快速、低成本的研發(fā)特性,并具備自動(dòng)化測(cè)試能力。
為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明采取如下的技術(shù)方案:
一種基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測(cè)試系統(tǒng),包括PXI硬件子系統(tǒng)和安裝有LabVIEW軟件的上位機(jī),所述PXI硬件子系統(tǒng)通過(guò)串口總線和CAN總線分別與所述上位機(jī)和被測(cè)對(duì)象通信;
所述PXI硬件子系統(tǒng)包括PXI機(jī)箱、主控制器、信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊和CAN通訊模塊,所述主控制器、所述信號(hào)調(diào)理模塊、所述數(shù)據(jù)采集模塊和所述CAN通訊模塊均集成在所述PXI機(jī)箱內(nèi)并通過(guò)PXI箱體背板總線與所述PXI機(jī)箱連接,所述信號(hào)調(diào)理模塊和所述數(shù)據(jù)采集模塊分別包括多個(gè)功能模塊板卡;
所述主控制器通過(guò)PXI/PXIe混合背板總線控制與調(diào)配各個(gè)功能模塊板卡。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下有益效果:
(1)集成化測(cè)試,將所有的測(cè)試功能集成在PXI機(jī)箱中,通過(guò)上位機(jī)軟件控制就能夠達(dá)到所有的測(cè)試目標(biāo),同時(shí)通過(guò)多套數(shù)據(jù)采集和型號(hào)處理模塊可實(shí)現(xiàn)多通道測(cè)試,多組信號(hào)通過(guò)PXI/PXIe混合背板總線并行高速處理,大大提高了測(cè)試效率,符合微納衛(wèi)星快速測(cè)試的要求;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811535386.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 可擴(kuò)展移動(dòng)終端平臺(tái)的方法和系統(tǒng)
- 一種面向粗糙表面的自動(dòng)印刷系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
- 一種虛擬自助辦稅系統(tǒng)及辦稅方法
- 一種基于CAN總線的小衛(wèi)星綜合電子系統(tǒng)及任務(wù)分配方法
- 布線管理系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 基于雙體系架構(gòu)的可信計(jì)算平臺(tái)的動(dòng)態(tài)度量方法和裝置
- 基于雙體系架構(gòu)的可信計(jì)算平臺(tái)的系統(tǒng)交互方法和裝置
- 雙行星輪混合動(dòng)力硬件在環(huán)仿真系統(tǒng)
- 一種衛(wèi)星軟件的仿真測(cè)試系統(tǒng)及方法





