[發(fā)明專利]基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811535386.0 | 申請日: | 2018-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109387775A | 公開(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐偉;周國光;金光;章家保;范國偉;周美麗 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 長春眾邦菁華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硬件子系統(tǒng) 微納衛(wèi)星 主控制器 數(shù)據(jù)采集模塊 通用測試系統(tǒng) 信號(hào)調(diào)理模塊 測試系統(tǒng) 上位機(jī) 研發(fā) 功能模塊板卡 自動(dòng)化測試 背板總線 被測對(duì)象 串口總線 通用性強(qiáng) 衛(wèi)星測試 系統(tǒng)軟件 箱體背板 總線 低成本 調(diào)配 架構(gòu) 測試 通信 | ||
1.一種基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,包括PXI硬件子系統(tǒng)(1)和安裝有LabVIEW軟件的上位機(jī)(2),所述PXI硬件子系統(tǒng)(1)通過串口總線和CAN總線分別與所述上位機(jī)(2)和被測對(duì)象(3)通信;
所述PXI硬件子系統(tǒng)(1)包括PXI機(jī)箱(1-1)、主控制器(1-2)、信號(hào)調(diào)理模塊(1-3)、數(shù)據(jù)采集模塊(1-4)和CAN通訊模塊(1-5),所述主控制器(1-2)、所述信號(hào)調(diào)理模塊(1-3)、所述數(shù)據(jù)采集模塊(1-4)和所述CAN通訊模塊(1-5)均集成在所述PXI機(jī)箱(1-1)內(nèi)并通過PXI箱體背板總線與所述PXI機(jī)箱(1-1)連接,所述信號(hào)調(diào)理模塊(1-3)和所述數(shù)據(jù)采集模塊(1-4)分別包括多個(gè)功能模塊板卡;
所述主控制器(1-2)通過PXI/PXIe混合背板總線控制與調(diào)配各個(gè)功能模塊板卡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,所述上位機(jī)(2)包括由所述LabVIEW軟件編寫完成的上層應(yīng)用程序?qū)?2-1)、中層功能模塊層(2-2)和底層驅(qū)動(dòng)程序?qū)?2-3);
所述上層應(yīng)用程序?qū)?2-1)提供用戶界面并控制所述中層功能模塊層(2-2)中各個(gè)功能模塊的運(yùn)行,所述底層驅(qū)動(dòng)程序?qū)?2-3)為所述LabVIEW軟件的圖形化編程環(huán)境和所述中層功能模塊層(2-2)提供底層功能數(shù)據(jù)庫。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述上層應(yīng)用程序?qū)?2-1)包括測試主程序模塊和測試配置程序模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述中層功能模塊層(2-2)中的各個(gè)功能模塊分別為測試模塊、系統(tǒng)配置管理模塊和測試算法模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述底層功能數(shù)據(jù)庫包括DAQmx庫、VISA庫和LabVIEW FPGA庫。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述信號(hào)調(diào)理模塊(1-3)包括矢量信號(hào)收發(fā)儀和多路復(fù)用器開關(guān)板卡。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述數(shù)據(jù)采集模塊(1-4)包括模擬輸入板卡、數(shù)字I/O板卡和多功能可重配置I/O板卡。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述串口總線采用RS-485協(xié)議。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述被測對(duì)象(3)為微納衛(wèi)星電子學(xué)系統(tǒng)或者微納衛(wèi)星分系統(tǒng),所述微納衛(wèi)星分系統(tǒng)包括電源分系統(tǒng)、有效載荷分系統(tǒng)、熱控分系統(tǒng)、姿控分系統(tǒng)和測控分系統(tǒng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于PXI總線的微納衛(wèi)星通用測試系統(tǒng),其特征在于,
所述電源分系統(tǒng)、所述有效載荷分系統(tǒng)、所述熱控分系統(tǒng)、所述姿控分系統(tǒng)和所述測控分系統(tǒng)通過星上電纜連接在星上接口箱上。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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