[發明專利]一種柔性薄膜電容的耐壓測試系統

在審

• 申請號: 201811527740.5
• 申請日: 2018-12-13
• 公開（公告）號: CN109683069A
• 公開（公告）日: 2019-04-26
• 發明（設計）人: 盧星華;李峰;周智勇
• 申請（專利權）人: 深圳市峰泳科技有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 楊波

1.一種柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述測試系統包括升壓調節模塊、電容耐壓測試模塊、矩陣電容板、FPGA控制模塊以及報警顯示模塊；

所述矩陣電容板在測試時與所述電容耐壓測試模塊連接；

所述升壓調節模塊與所述電容耐壓測試模塊連接，向所述矩陣電容板輸出矩陣試驗電壓；

所述FPGA控制模塊與所述升壓調節模塊及所述報警顯示模塊連接，以控制所述升壓調節模塊輸出的矩陣試驗電壓的接通和切斷；

在耐壓試驗中，當所述矩陣電容板在試驗電壓下達到規定的時間后，試驗電壓被所述FPGA控制模塊切斷，當所述矩陣電容板的漏電電流大于預設的報警電流后，相應的試驗電壓被所述FPGA控制模塊切斷并驅動所述報警顯示模塊報警。

2.如權利要求1所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述矩陣電容板包括N*M個柔性薄膜電容，每一個柔性薄膜電容的上下電極通過兩根探針與所述電容耐壓測試模塊連接。

3.如權利要求2所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括一矩陣控制模塊，所述矩陣電容板通過所述矩陣控制模塊與所述電容耐壓測試模塊相連，所述矩陣控制模塊用于控制和記錄所述矩陣電容板中每一柔性薄膜電容的位置。

4.如權利要求3所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述FPGA控制模塊和所述矩陣控制模塊連接，以控制每一柔性薄膜電容其相應探針的接通與切斷。

5.如權利要求2所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括漏電流檢測模塊，所述漏電檢測模塊與所述矩陣控制模塊以及所述報警顯示模塊相連，所述漏電流檢測模塊用于檢測所述矩陣電容板中每個柔性薄膜電容在試驗電壓下及規定時間內，漏電流是否超過報警電流，若超過則所述報警顯示模塊立即報警，則判斷所述矩陣電容板中對應位置的柔性薄膜電容耐壓測試不合格；若漏電流未超過報警電流，則判斷所述矩陣電容板中對應位置的柔性薄膜電容耐壓測試合格。

6.如權利要求1所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括電源模塊，所述電源模塊的輸入端與工頻電網連接，所述電源模塊將接入的交流電壓降壓穩壓后轉換為直流電，提供給所述FPGA控制模塊、所述升壓調節模塊和所述報警顯示模塊。

7.如權利要求1所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述報警顯示模塊還包含聲光報警器，以及能夠顯示相應柔性薄膜電容的漏電流值和對應的試驗電壓值。

8.如權利要求1所述的柔性薄膜電容的耐壓測試系統，其特征在于，所述FPGA控制模塊包括存儲模塊，以記錄保存每次測試輸出的試驗電壓和漏電流值，以供用戶調用或保存。