[發(fā)明專利]耗材芯片復(fù)位方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811517269.1
• 申請(qǐng)日: 2018-12-12
• 公開（公告）號(hào): CN109532235B
• 公開（公告）日: 2020-03-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祁美超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海艾派克微電子有限公司
• 主分類號(hào): B41J2/175
• 分類號(hào): B41J2/175
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

本發(fā)明提供一種耗材芯片復(fù)位方法及裝置。寫入耗材芯片的數(shù)據(jù)由大數(shù)據(jù)塊和小數(shù)據(jù)塊組成，所述耗材芯片復(fù)位方法包括：將所述大數(shù)據(jù)塊寫入所述耗材芯片；檢測(cè)所述大數(shù)據(jù)塊是否被完整寫入到所述耗材芯片中；若檢測(cè)結(jié)果為所述大數(shù)據(jù)塊已經(jīng)被完整寫入到所述耗材芯片中，則記錄所述檢測(cè)結(jié)果，所述檢測(cè)結(jié)果作為扣除點(diǎn)數(shù)的判斷標(biāo)志以及重復(fù)復(fù)位操作時(shí)無(wú)需重新再寫入所述大數(shù)據(jù)塊的判斷標(biāo)志；將所述小數(shù)據(jù)塊寫入到所述耗材芯片中；檢測(cè)所述小數(shù)據(jù)塊是否被完整寫入到所述耗材芯片中。本發(fā)明能夠降低復(fù)位設(shè)備被干擾的可能性，提高耗材芯片的復(fù)位效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及打印成像技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種耗材芯片復(fù)位方法及裝置。

背景技術(shù)

芯片復(fù)位設(shè)備在復(fù)位耗材芯片時(shí)，一般按照扣點(diǎn)數(shù)的原則進(jìn)行。如果復(fù)位設(shè)備成功復(fù)位一片芯片，設(shè)備就會(huì)相應(yīng)的扣除一定的點(diǎn)數(shù)。復(fù)位設(shè)備的總點(diǎn)數(shù)如果用完，就需要向復(fù)位設(shè)備的制造廠商購(gòu)買點(diǎn)數(shù)。

用于打印機(jī)(激光打印機(jī)、噴墨打印機(jī)或者多功能一體機(jī))的耗材芯片，其存儲(chǔ)與打印耗材盒(墨盒、硒鼓、粉盒等)有關(guān)的信息，主要功能是用于身份識(shí)別和記錄使用狀態(tài)。打印耗材盒可拆卸地安裝到打印機(jī)的主體上，當(dāng)耗材盒中的記錄材料(例如墨水、碳粉)消耗完時(shí)，就需要更換新的耗材盒。更換后耗材盒的信息，可以通過(guò)該耗材盒上的芯片來(lái)提供給打印機(jī)。

由于耗材芯片不同于墨水，其具有較長(zhǎng)的壽命，因此只需要將耗材芯片的數(shù)據(jù)恢復(fù)到表示記錄材料處于“滿”的狀態(tài)，就可以繼續(xù)使用，從而節(jié)省使用成本。目前，可以利用復(fù)位設(shè)備實(shí)現(xiàn)耗材芯片的數(shù)據(jù)恢復(fù)。

復(fù)位設(shè)備復(fù)位耗材芯片通常要經(jīng)過(guò)兩個(gè)過(guò)程：一是復(fù)位步驟，將耗材芯片的數(shù)據(jù)復(fù)位到初始狀態(tài)值；二是檢測(cè)步驟，檢測(cè)確認(rèn)耗材芯片的數(shù)據(jù)是否復(fù)位成功。復(fù)位的目的就是將芯片數(shù)據(jù)還原，安裝到打印機(jī)上后，可以被識(shí)別為全新耗材芯片，檢測(cè)的目的就是要檢測(cè)耗材芯片的數(shù)據(jù)是否經(jīng)被成功復(fù)位。

然而，有人會(huì)在檢測(cè)步驟時(shí)對(duì)檢測(cè)機(jī)制進(jìn)行干擾，導(dǎo)致檢測(cè)不能通過(guò)。這種干擾后果表現(xiàn)在耗材芯片的數(shù)據(jù)已經(jīng)寫進(jìn)去了，耗材芯片理論上已經(jīng)寫成功，但復(fù)位設(shè)備為了確認(rèn)成功，會(huì)將數(shù)據(jù)讀出比較確認(rèn)，這個(gè)過(guò)程會(huì)給作弊留下隱患，有人可以通過(guò)干擾或其它手段作弊導(dǎo)致檢測(cè)不通過(guò)，復(fù)位設(shè)備就不會(huì)扣點(diǎn)數(shù)，從而給復(fù)位設(shè)備的制造廠商造成經(jīng)濟(jì)損失。

由于這種復(fù)位方式被干擾后，復(fù)位設(shè)備不能明確得知復(fù)位的進(jìn)度，進(jìn)而不能記錄復(fù)位操作是否真的成功，導(dǎo)致復(fù)位設(shè)備可能會(huì)反復(fù)復(fù)位寫入數(shù)據(jù)，帶來(lái)操作時(shí)間長(zhǎng)、寫入效率低的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供的耗材芯片復(fù)位方法及裝置，能夠降低復(fù)位設(shè)備被干擾的可能性，提高耗材芯片的復(fù)位效率。

第一方面，本發(fā)明提供一種耗材芯片復(fù)位方法，寫入耗材芯片的數(shù)據(jù)由大數(shù)據(jù)塊和小數(shù)據(jù)塊組成，所述方法包括：

將所述大數(shù)據(jù)塊寫入所述耗材芯片；

檢測(cè)所述大數(shù)據(jù)塊是否被完整寫入到所述耗材芯片中；

若檢測(cè)結(jié)果為所述大數(shù)據(jù)塊已經(jīng)被完整寫入到所述耗材芯片中，則記錄所述檢測(cè)結(jié)果，所述檢測(cè)結(jié)果作為扣除點(diǎn)數(shù)的判斷標(biāo)志以及重復(fù)復(fù)位操作時(shí)無(wú)需重新再寫入所述大數(shù)據(jù)塊的判斷標(biāo)志；

將所述小數(shù)據(jù)塊寫入到所述耗材芯片中；

檢測(cè)所述小數(shù)據(jù)塊是否被完整寫入到所述耗材芯片中。

可選地，所述方法還包括：

若檢測(cè)結(jié)果為所述大數(shù)據(jù)塊沒(méi)有被完整寫入到所述耗材芯片中，則結(jié)束整個(gè)復(fù)位操作流程。

可選地，所述檢測(cè)所述大數(shù)據(jù)塊是否被完整寫入到所述耗材芯片中包括：從所述耗材芯片中讀出已寫入的大數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)，檢測(cè)所述已寫入的大數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)，判斷已寫入的大數(shù)據(jù)塊是否完整。

可選地，所述將所述大數(shù)據(jù)塊寫入所述耗材芯片包括：采用第一訪問(wèn)方式將所述大數(shù)據(jù)塊寫入所述耗材芯片；