[發(fā)明專利]一種平面型雙向觸發(fā)二極管及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811508784.3 | 申請日: | 2018-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN109659232A | 公開(公告)日: | 2019-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜巖峰;于平平;王旭峰 | 申請(專利權(quán))人: | 江南大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L29/861 |
| 代理公司: | 哈爾濱市陽光惠遠(yuǎn)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 23211 | 代理人: | 張勇 |
| 地址: | 214000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 平面型 雙向觸發(fā)二極管 襯底 制備 集成電路 摻雜 半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域 雙極型集成電路 同一水平位置 燒壞 觸發(fā)二極管 觸發(fā)特性 電源輸出 分立器件 工藝兼容 整流效率 熱容量 觸發(fā) 易被 應(yīng)用 靈敏 電路 垂直 | ||
本發(fā)明公開了一種平面型雙向觸發(fā)二極管及其制備方法,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。所述平面型雙向觸發(fā)二極管的結(jié)構(gòu)是自下而上包括:p型襯底和n型外延層;在n型外延層上摻雜兩個處于同一水平位置的p阱,在兩個p阱上分別摻雜一個n阱;本發(fā)明突破分立器件的設(shè)計思想,不再沿用垂直設(shè)計的思路,而是采用與雙極型集成電路工藝兼容的方法,設(shè)計出一款平面型DIAC器件,將集成電路的整個p型襯底和上述平面型DIAC器件做成一體,改善了觸發(fā)二極管的觸發(fā)特性,應(yīng)用于電路中使得電流的觸發(fā)更為靈敏,整流效率得到提高,電源輸出效率可達(dá)90%以上,且增強了熱容量,使得其能夠應(yīng)用于集成電路中,且不存在易被燒壞的缺點。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種平面型雙向觸發(fā)二極管及其制備方法,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
雙極交流開關(guān)(DIAC,Diode AC Switch),又稱雙向觸發(fā)二極管,是一種傳統(tǒng)半導(dǎo)體器件。由于其特殊的電流—電壓特性,使其在正或負(fù)的陽極電壓下皆可以實現(xiàn)器件的開關(guān),是一種用途廣泛的開關(guān)器件,主要應(yīng)用于自動控制、家用電器等方面。目前,DIAC器件主要采用雙擴散的體加工工藝制作,典型產(chǎn)品有DB3。
傳統(tǒng)DIAC器件通常是分立器件,主要采用縱向五層結(jié)構(gòu),如圖1所示;圖1為雙向觸發(fā)二極管的剖面圖,在該五層結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上將發(fā)射極短路(可采用金屬電極覆蓋P2區(qū)和N2區(qū)的方式),可改善其溫度特性,DIAC器件結(jié)構(gòu)可以等效為兩個互補的三極管,如圖2所示,每個三極管的集電極都接到對方的基極,從電流角度來說,電流在集電極—基極—集電極—基極構(gòu)成放大循環(huán),從而在DIAC器件內(nèi)部組成了強烈的正反饋,對電流進(jìn)行不斷放大,當(dāng)電流值放大到一定值時,在I-V特性曲線上出現(xiàn)轉(zhuǎn)折點,繼而表現(xiàn)為負(fù)阻性,器件由關(guān)斷狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)。
但是傳統(tǒng)DIAC器件為分立器件,其無法直接集成到集成電路中,若按照集成電路制備方法將其集成到集成電路中,如圖3所示,則會造成其熱容量小,熱容量小勢必導(dǎo)致其散熱性能差,應(yīng)用中會導(dǎo)致集成電路易被燒壞。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決傳統(tǒng)DIAC器件作為分立器件無法集成到集成電路中去的問題,本發(fā)明提供了一種平面型雙向觸發(fā)二極管及其制備方法;
本發(fā)明的第一個目的在于提供一種平面型雙向觸發(fā)二極管,所述平面型雙向觸發(fā)二極管的結(jié)構(gòu)是自下而上包括:p型襯底和n型外延層;在n型外延層上摻雜兩個p阱,在兩個p阱上分別再摻雜一個n阱。
可選的,所述兩個p阱間距10-300μm,結(jié)深0.5-10μm,寬度10-200μm。
可選的,兩個n阱的結(jié)深0.1-5μm,寬度0.5-200μm。
可選的,所述p型襯底和/或p阱為p型雜質(zhì),包括硼、鋁、鎵,其中p型襯底的濃度量級1e13cm-3-1e15cm-3,p阱的摻雜濃度為1e15cm-3-1e18cm-3;n型外延層和/或n阱為n型Si摻雜為氮、磷、砷中的任意一種,其中n型外延層的濃度量級為1e13cm-3-1e15cm-3,n阱的濃度量級為1e17cm-3-1e20cm-3。
本發(fā)明的第二個目的在于提供一種平面型雙向觸發(fā)二極管,所述平面型雙向觸發(fā)二極管的結(jié)構(gòu)是自下而上包括:n型襯底和p型外延層;在p型外延層上摻雜兩個n阱,在兩個n阱上再分別摻雜一個p阱。
可選的,所述兩個n阱間距10-300μm,結(jié)深0.5-10μm,寬度10-200μm;兩個p阱寬度0.5-200μm,p阱的結(jié)深不超過n阱的結(jié)深。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





