[發明專利]一種X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法在審
| 申請號： | 201811504310.1 | 申請日： | 2018-12-10 |
| 公開（公告）號： | CN109557118A | 公開（公告）日： | 2019-04-02 |
| 發明（設計）人： | 李文生;孫肖媛;王磊;許涯平;曾海梅 | 申請（專利權）人： | 武鋼集團昆明鋼鐵股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/223 | 分類號： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 昆明知道專利事務所(特殊普通合伙企業) 53116 | 代理人： | 謝喬良;張玉 |
| 地址： | 650300 云南省*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 鈦鐵合金 漂移 分析程序 分析試樣 一次性分析 粉末壓片 高溫熔融 校正程序 校準曲線 元素特征 制取 制樣 讀出 校正 分析 驗證 計算機 | ||
1.一種X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于包括以下步驟：
1）制作待測壓片：鈦鐵合金經過干燥、破碎、混合、縮分、研磨、過篩，得到粉末試樣，取樣1.5~2.5g，在壓片機上制作成樣片作為待測定樣；
2）光譜儀參數設定：校準光譜儀，選擇各元素的Ka譜線作為分析線，同時選擇與譜線對應的2θ角，光管電壓20～40KV，光管電流60～125mA；為使含量0.1%以上的元素得到盡可能高的計數強度,保證測定的靈敏度,同時使含量10%以上的元素不因計數率太高而漏計,對各元素的分析條件進行了設定,分析條件見表1：
表1儀器工作條件
3）測定并記錄數據：分析測定各組分含量，從計算機讀取數據并記錄，即可。
2.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（1）中所述的過篩是選用150~180目篩。
3.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（1）中所述的在壓片機上制作成樣片的過程中壓力為20~30t，時間20~40s。
4.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（1）中所述的樣片是采用硼酸作為襯底。
5.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（2）中所述的校準光譜儀是利用校準曲線制作各元素的分析程序，測定各元素特征X射線強度建立最終的分析程序和漂移校正程序，對儀器進行漂移校正和驗證分析。
6.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（2）中所述的光管電壓在測Ti、Mn、Cu時為40~50 kV , 測Si、Al、P為24~30 kV 。
7.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（2）中所述的光管電流在測Ti、Mn、Cu時為50~60 mA，測Si、Al、P為115~125 mA。
8.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（2）中所述分析測定各組分含量的過程中，每個樣品需測定不少于9次，并取平均值。
9.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（1）中所述樣片的規格為：直徑25~40mm，厚度5~6mm。
10.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜法測定鈦鐵合金中各組分含量的方法，其特征在于步驟（3）中所述測定的次數為每種樣品不少于兩次。
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