[發明專利]感應的位置測量裝置有效
| 申請號: | 201811487195.1 | 申請日: | 2018-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN109883305B | 公開(公告)日: | 2022-03-01 |
| 發明(設計)人: | M.O.蒂曼;A.弗蘭克;M.霍伊曼;D.奧爾;O.澤爾 | 申請(專利權)人: | 約翰內斯·海德漢博士有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/24 | 分類號: | G01B5/24 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 宣力偉;譚祐祥 |
| 地址: | 德國特勞*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 感應 位置 測量 裝置 | ||
1.感應的位置測量裝置,該感應的位置測量裝置具有掃描元件(1)和刻度元件(2),其中所述刻度元件(2)能夠以相對于所述掃描元件(1)圍繞著軸線(A)旋轉的方式來布置,并且
-所述掃描元件(1)
*具有至少一條激勵線路(1.3、1.4);
*具有第一接收器軌道(1.1),所述第一接收器軌道包括至少一條接收器線路(1.11、1.12),所述接收器線路根據具有第一周期(P1.1)的第一周期性的模式沿第一方向(X)延伸;并且
*具有第二接收器軌道(1.2),所述第二接收器軌道包括至少一條接收器線路(1.21、1.22),其中
-所述刻度元件(2)包括刻度軌道(2.1),所述刻度軌道關于所述軸線(A)沿圓周方向(U)延伸并且沿所述圓周方向(U)具有刻度周期(P2.1),此外
如此配置所述位置測量裝置,使得通過所述刻度軌道(2.1)由所述至少一條激勵線路(1.3、1.4)所產生的電磁場能夠得到調制,從而通過所述第一接收器軌道(1.1)的接收器線路(1.11、1.12)能夠檢測所述刻度元件(2)相對于所述掃描元件(1)的角度位置(),并且
通過所述第二接收器軌道(1.2)的接收器線路(1.21、1.22)能夠檢測所述刻度元件(2)的沿第一方向(X)相對于所述掃描元件(1)的位置(ξ)。
2.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一接收器軌道(1.1)和/或所述第二接收器軌道(1.2)具有至少兩條接收器線路(1.11、1.12;1.21、1.22)。
3.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一周期(P1.1)大致相當于所述刻度周期(P2.1),因而適用:
1.5>[第一周期(P1.1):刻度周期(P2.1)]>0.75。
4.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一接收器軌道(1.1)具有至少一條接收器線路(1.11、1.12),所述接收器線路沿所述第一方向(X)在長度(L11)的范圍內延伸,其中所述長度(L11)至少是所述第一周期(P1.1)三倍大小。
5.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第二接收器軌道(1.2)的接收器線路(1.21、1.22)根據具有第二周期(P1.2)的第二周期性的模式來布置,其中所述第二周期(P1.2)大于所述刻度軌道(2.1)的刻度周期(P2.1)。
6.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第二接收器軌道(1.2)的接收器線路(1.21、1.22)根據具有第二周期(P1.2)的第二周期性的模式來布置,并且所述第二周期(P1.2)大于所述第一周期(P1.1)。
7.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中關于所述軸線(A)所述第一接收器軌道(1.1)相對于所述第二接收器軌道(1.2)以徑向的偏移來布置。
8.根據權利要求5所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一接收器軌道(1.1)相對于所述軸線(A)以比所述第二接收器軌道(1.2)小的徑向的間距來布置。
9.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述刻度元件(2)具有彎曲的外周面,在該彎曲的外周面上布置了所述刻度軌道(2.1)。
10.根據權利要求1所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一接收器軌道(1.1)和/或所述第二接收器軌道(1.2)布置在平坦的平面上。
11.根據權利要求9所述的感應的位置測量裝置,其中所述第一接收器軌道(1.1)和/或所述第二接收器軌道(1.2)布置在彎曲的平面上,其中所述彎曲的平面的彎曲半徑有別于所述彎曲的外周面的彎曲半徑,在所述彎曲的外周面上布置了所述刻度軌道(2.1)。
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