[發(fā)明專利]組合材料芯片的高通量材料合成及同步輻射光源高通量表征方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811461910.4 | 申請日: | 2018-12-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109682847B | 公開(公告)日: | 2021-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張志軍;王禹;楊昕昕;楊鐵瑩;馮振杰;高興宇;趙景泰 | 申請(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/20008 | 分類號(hào): | G01N23/20008;G01N23/20033;G01N23/20058 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 組合 材料 芯片 通量 合成 同步 輻射 光源 表征 方法 | ||
1.一種基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于,能一次性制備多組分濃度梯度的材料,每種組份的材料的添加量能精確度控制為±1μL,通過化學(xué)法制備前驅(qū)體,并進(jìn)行高溫?zé)崽幚恚襟E如下:
a.原料準(zhǔn)備:采用樣品原料和絡(luò)合劑,準(zhǔn)備具有設(shè)定濃度的多個(gè)不同組分的樣品原料標(biāo)準(zhǔn)液;
b.將上述標(biāo)準(zhǔn)液分別添加至組合材料儀的原料倉的不同儲(chǔ)液箱中,采用有多個(gè)反應(yīng)腔的多孔基板作為反應(yīng)容器,同時(shí)將多孔基板反應(yīng)容器放入組合材料儀中;
c.通過編程的方式,設(shè)定每個(gè)樣品的各種原料標(biāo)準(zhǔn)液、絡(luò)合劑的滴加量,分別向多孔基板反應(yīng)容器的不同反應(yīng)腔中滴加設(shè)定量的樣品原料標(biāo)準(zhǔn)液進(jìn)行分別混合,并加入絡(luò)合劑,絡(luò)合劑添加量為所需絡(luò)合粒子的摩爾量的1-2倍,得到一系列配比的混合液;
d.通過超聲和恒溫水浴的方式,對在所述步驟c中配制的混合液進(jìn)行均勻混合加熱,制備一系列組成的前驅(qū)體濕凝膠;
e.通過恒溫通風(fēng)干燥的方式,將在所述步驟d中得到的前驅(qū)體濕凝膠制備一系列組成的干凝膠;
f.將在所述步驟e中得到的干凝膠通過熱處理的方式,獲得具有一系列組成的最終樣品材料,然后將樣品裝入樣品臺(tái),從而組裝得到基板和高通量材料一體化的組合材料芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于:在所述步驟a中,樣品原料采用金屬醇鹽M(OR)、硝酸鹽、醋酸鹽和氯化物中的任意一種或者任意幾種的混合物;絡(luò)合劑采用檸檬酸、草酸、聚乙烯吡咯烷酮中的任意一溶劑或者任意幾種的混合溶劑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于:在所述步驟b中,基板的反應(yīng)腔的材料與樣品原料不發(fā)生化學(xué)反應(yīng),根據(jù)目標(biāo)制備多組分濃度梯度的材料樣品的數(shù)量設(shè)計(jì)基板的反應(yīng)腔的數(shù)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于:在所述步驟d中,采用超聲功率不低于20W,水浴加熱溫度為50-100℃,混合時(shí)間為1-48h。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于:在所述步驟e中,將經(jīng)過超聲水解充分后的前驅(qū)體濕凝膠迅速放入真空干燥箱進(jìn)行干燥,干燥溫度控制在90-200℃,干燥時(shí)間為4-24小時(shí)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法,其特征在于:在所述步驟f中,將干凝膠進(jìn)行熱處理時(shí),將干凝膠放入馬弗爐,在不高于1200℃下進(jìn)行高溫?zé)Y(jié)至少3小時(shí),燒結(jié)完成后再按照不高于3℃/min的降溫速度將基板中的燒結(jié)產(chǎn)物降至室溫,即得到組合材料芯片。
7.一種利用同步輻射光源進(jìn)行高通量表征方法,其特征在于,在同步輻射光源X射線衍射線站作為實(shí)現(xiàn)高通量表征的軟件及設(shè)備平臺(tái),控制樣品臺(tái)移動(dòng),采用權(quán)利要求1所述基于組合材料芯片的高通量材料合成方法制備的組合材料芯片,根據(jù)樣品數(shù)量對位移路線編程,在位移后自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)收集,采用反射式或透射式測量方式,利用同步輻射光源進(jìn)行高通量表征,步驟如下:
ⅰ.將位移平臺(tái)固定于同步輻射光源的X射線衍射站平臺(tái)之上,將樣品架固定于位移平臺(tái)之上,完成組合材料芯片的安裝;
ⅱ.將平臺(tái)與控制器相連接,將控制器,控制電腦,數(shù)據(jù)采集裝置全部通過網(wǎng)線接入一個(gè)路由器,完成同步輻射光源X射線衍射線站的系統(tǒng)連接;
ⅲ.利用自動(dòng)化移動(dòng)平臺(tái)軟件系統(tǒng),進(jìn)行校準(zhǔn)和路線編程,按照設(shè)定檢測步調(diào),將組合材料芯片的對應(yīng)反應(yīng)腔中的高通量材料樣品輸送到檢測點(diǎn)位置;
ⅳ.利用同步輻射光源的X射線衍射站,開始對組合材料芯片的對應(yīng)反應(yīng)腔中的高通量材料樣品進(jìn)行測試和采集數(shù)據(jù),在同步輻射光源下進(jìn)行高通量原位表征。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述利用同步輻射光源進(jìn)行高通量表征方法,其特征在于:在所述步驟ⅰ中,所用的位移平臺(tái)重復(fù)精度不高于50nm,行程不低于50mm,最小步長達(dá)到0.05μm;通過直接螺絲固定組合材料芯片,完成反射測量方式上樣程序,或者通過轉(zhuǎn)接支架固定組合材料芯片,完成透射測量方式上樣程序。
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